[发明专利]一种用于介电常数测试的装置及其使用方法在审

专利信息
申请号: 201711093841.1 申请日: 2017-11-08
公开(公告)号: CN107894534A 公开(公告)日: 2018-04-10
发明(设计)人: 袁帅 申请(专利权)人: 贵州航天计量测试技术研究所
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26
代理公司: 贵阳中新专利商标事务所52100 代理人: 商小川
地址: 550009 *** 国省代码: 贵州;52
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 介电常数 测试 装置 及其 使用方法
【权利要求书】:

1.一种用于介电常数测试的装置,包括底座(1)、上金属板(6)、下金属板(4)、被测件(5)和矢量网络分析仪,其特征在于:还包括千分尺滑台(2)、短路板(3)、同轴线(7)、耦合环(8)和螺旋顶(9),下金属板(4)固定在千分尺滑台(2)上,上金属板(6)和下金属板(4)两侧各有一块短路板(3),带耦合环(8)的同轴线(7)穿过短路板(3)与矢量网络分析仪电连接。

2.根据权利要求1所述的一种用于介电常数测试的装置,其特征在于:在短路板(3)上设置有调节孔(31)。

3.根据权利要求1所述的一种用于介电常数测试的装置,其特征在于:所述千分尺滑台(2)下表面螺纹连接螺旋顶(9),螺旋顶(9)下表面与底座(1)接触。

4.根据权利要求1所述的一种用于介电常数测试的装置,其特征在于:所述螺旋顶(9)为螺栓结构,由头部和带外螺纹的螺杆组成,所述头部直径为螺杆直径的3-5倍。

5.权利要求1-4中任一权利要求所述用于介电常数测试的装置的使用方法,其特征在于,包括如下步骤:将被测件(5)放置在下金属板(4)上,转动螺旋顶(9)使下金属板(4)缓慢上升,当被测件(5)的上表面与上金属板(6)的下表面接触时停止,将带耦合环(8)的同轴线(7)从合适的调节孔(31)伸入,使耦合环(8)耦合到被测件(5)上,矢量网络分析仪的扫频信号输入输出端连接到同轴线(7)上,信号通过同轴线(7)输入到屏蔽腔内,由耦合环(8)耦合到被测件(5)上,再通过同轴线(7)传回矢量网络分析仪。

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