[发明专利]多器身串联变压器测试方法、总成及测试系统

说明书

本发明提供了一种多器身串联变压器测试方法、总成及测试系统，其中方法包括：将测试装置的高压线与变压器的高压绕组连接，所述测试装置的低压线与待测试器身的低压绕组连接；将变压器中除所述待测试器身以外的其它器身的低压绕组分别短接；利用所述测试装置对所述待测试器身进行测试。本发明实施例提供的多器身串联变压器测试方法、总成及测试系统，在测试时其它器身中不会有磁通产生，能够有效消除铁芯剩磁的影响，提高了测试结果的准确性。

技术领域

本发明属于变压器技术领域，更具体地说，是涉及一种多器身串联变压器测试方法、总成及测试系统。

背景技术

多器身串联变压器多见于变频整流变压器，此类变压器的高压绕组分布于多个器身，多个器身对应的高压绕组依次串联连接，三相首头由套管引出，这种变压器每个器身的高压绕组电压只占该变压器高压额定电压的一部分，每个器身的低压绕组各自独立，而且每个低压绕组相对于高压绕组的相位差可能不一致。

在对多器身串联变压器进行测试时，受铁芯剩磁等因素的影响，容易造成高压绕组的串联段分压不均匀，从而导致二次感应电压不一致，最终使得测试结果不准确。

发明内容

本发明的目的在于提供一种多器身串联变压器测试方法、总成及测试系统，旨在解决现有技术中多器身串联变压器测试不准确的技术问题。

为实现上述目的，本发明实施例提供一种多器身串联变压器测试方法，包括：

将测试装置的高压线与变压器的高压绕组连接，所述测试装置的低压线与待测试器身的低压绕组连接；

将变压器中除所述待测试器身以外的其它器身的低压绕组分别短接；

利用所述测试装置对所述待测试器身进行测试。

进一步地，将测试装置的高压线与变压器的高压绕组连接，所述测试装置的低压线与待测试器身的低压绕组连接，包括：

将测试装置的高压线中的三根测试线与高压绕组的三根引线一一对应连接；

将所述测试装置的低压线中的三根测试线与所述待测试器身的低压绕组的三根引线一一对应连接。

进一步地，将变压器中除所述待测试器身以外的其它器身的低压绕组分别短接，包括：

针对所述其它器身中的每一个器身，执行如下操作：将该器身的低压绕组的三根引线短接。

进一步地，利用所述测试装置对所述待测试器身进行测试，包括：

利用所述测试装置对所述待测试器身对应的变比进行测试；

利用所述测试装置对所述待测试器身对应的联接组别进行测试。

进一步地，利用所述测试装置对所述待测试器身对应的变比进行测试，包括：

确定所述变压器中器身的个数以及所述变压器的标称变比；

根据所述变压器中器身的个数以及所述变压器的标称变比，利用所述测试装置确定所述待测试器身对应的变比的误差。

进一步地，根据所述变压器中器身的个数以及所述变压器的标称变比，利用所述测试装置确定所述待测试器身对应的变比的误差，包括：

将所述变压器的标称变比除以所述变压器中器身的个数，得到所述待测试器身对应的标准变比；

将所述标准变比输入至所述测试装置，利用所述测试装置测试所述待测试器身对应的变比的误差。

本发明实施例还提供一种多器身串联变压器总成，包括多器身串联变压器以及短接装置；

所述多器身串联变压器包括多个器身；