[发明专利]用于添加式地制造三维物体的设备有效

专利信息
申请号: 201711089851.8 申请日: 2017-11-08
公开(公告)号: CN109278288B 公开(公告)日: 2021-10-08
发明(设计)人: T·德乐 申请(专利权)人: CL产权管理有限公司
主分类号: B29C64/153 分类号: B29C64/153;B29C64/35;B29C64/386;B33Y30/00;B33Y50/00
代理公司: 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 代理人: 徐颖聪
地址: 德国利希*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 用于 添加 制造 三维 物体 设备
【权利要求书】:

1.一种通过依次逐层地选择性照射和固化由能借助能量束(4)固化的建造材料(3)构成的层而添加式地制造三维物体(2)的设备,所述设备(1)包括:

-包括建造平面(7)的过程室(8),在设备(1)的运行期间,由建造材料(3)构成的层在所述建造平面中借助能量束(4)被依次逐层地选择性照射和固化;

-气体流产生装置(9),该气体流产生装置构造成产生在设备(1)的运行期间至少局部地流经过程室(8)的气体流,所述气体流能够在流经过程室(8)时夹带在设备(1)的运行期间产生的未固化的建造材料颗粒(25);以及

-光学确定装置(12),该光学确定装置构造成光学地确定在过程室(8)中的至少一个限定位置处的、适于表征在设备(1)的运行期间流经过程室(8)的气体流的流动特性的至少一个参数;

其中,所述光学确定装置(12)包括:

至少一个光学测量单元(13),所述至少一个光学测量单元(13)构造成光学地测量过程室(8)中的与气体流相关的至少一个测量值;以及

至少一个评估单元(14),所述至少一个评估单元(14)构造成评估由光学测量单元(13)测量的测量值,从而确定适于表征气体流的流动特性的所述至少一个参数;

其中,所述至少一个光学测量单元(13)包括:

测量射束产生单元(15),所述测量射束产生单元(15)构造成产生多个测量射束(16a、16b),所述多个测量射束在过程室(8)中的具有能预先限定的坐标的交叉点(P1)处彼此交叉;以及

光学探测单元(17),所述光学探测单元(17)构造成探测测量射束(16a、16b)在过程室(8)中的交叉点(P1);

或者其中,所述至少一个光学测量单元(13)包括:

测量射束产生单元(15),所述测量射束产生单元(15)构造成产生沿平行于建造平面(7)的方向延伸穿过过程室(8)的脉冲式测量射束(16);以及

光学探测单元(17),所述光学探测单元(17)构造成探测过程室(8)内的探测区域/体积中的、因测量射束(16)与气体流之间的相互作用而产生的散射光。

2.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,所述至少一个光学测量单元(13)构造成测量在过程室(8)中的不同位置处的测量值。

3.根据权利要求2所述的设备,其特征在于,所述光学测量单元(13)构造成在过程室中的不同位置处测量多个测量值。

4.根据权利要求3所述的设备,其特征在于,评估单元(14)构造成评估所述多个测量值,从而以至少一个多维度表示来确定适于表征气体流的流动特性的所述至少一个参数。

5.根据权利要求1-4中任一项所述的设备,其特征在于,适于表征在设备(1)的运行期间流经过程室(8)的气体流的流动特性的所述至少一个参数是气体流的流速。

6.根据权利要求1-4中任一项所述的设备,其特征在于,所述气体流产生装置(9)构造成基于确定出的适于表征气体流的流动特性的所述至少一个参数来控制气体流的流动特性。

7.根据权利要求1-4中任一项所述的设备,其特征在于,所述设备包括输出接口单元(31),该输出接口单元构造成输出确定出的适于表征气体流的流动特性的所述至少一个参数。

8.根据权利要求7所述的设备,其特征在于,所述输出接口单元(31)构造成以气体流的流动特性的至少一种多维度表示,输出确定出的适于表征气体流的流动特性的所述至少一个参数。

9.一种用于通过依次逐层地选择性照射和固化由能借助能量束(4)固化的建造材料(3)构成的层而添加式地制造三维物体(2)的设备(1)的光学确定装置(12),所述光学确定装置(12)构造成光学地确定在过程室(8)中的至少一个限定位置处的、适于表征在设备(1)的运行期间流经设备(1)的过程室(8)的气体流的流动特性的至少一个参数;

其中,所述光学确定装置(12)包括:

至少一个光学测量单元(13),所述至少一个光学测量单元(13)构造成光学地测量过程室(8)中的与气体流相关的至少一个测量值;以及

至少一个评估单元(14),所述至少一个评估单元(14)构造成评估由光学测量单元(13)测量的测量值,从而确定适于表征气体流的流动特性的所述至少一个参数;

其中,所述至少一个光学测量单元(13)包括:

测量射束产生单元(15),所述测量射束产生单元(15)构造成产生多个测量射束(16a、16b),所述多个测量射束在过程室(8)中的具有能预先限定的坐标的交叉点(P1)处彼此交叉;以及

光学探测单元(17),所述光学探测单元(17)构造成探测测量射束(16a、16b)在过程室(8)中的交叉点(P1);

或者其中,所述至少一个光学测量单元(13)包括:

测量射束产生单元(15),所述测量射束产生单元(15)构造成产生沿平行于建造平面(7)的方向延伸穿过过程室(8)的脉冲式测量射束(16);以及

光学探测单元(17),所述光学探测单元(17)构造成探测过程室(8)内的探测区域/体积中的、因测量射束(16)与气体流之间的相互作用而产生的散射光。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于CL产权管理有限公司,未经CL产权管理有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201711089851.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top