[发明专利]池化方法、物体检测方法、装置、系统及计算机可读介质在审
| 申请号: | 201711082008.7 | 申请日: | 2017-11-06 |
| 公开(公告)号: | CN107766865A | 公开(公告)日: | 2018-03-06 |
| 发明(设计)人: | 王志成;俞刚 | 申请(专利权)人: | 北京旷视科技有限公司;北京迈格威科技有限公司 |
| 主分类号: | G06K9/46 | 分类号: | G06K9/46;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司: | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙)11371 | 代理人: | 宋南 |
| 地址: | 100000 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 方法 物体 检测 装置 系统 计算机 可读 介质 | ||
1.一种池化方法,其特征在于,包括:
根据目标图像特征图的特征值,确定截取阈值;
将目标图像特征图的特征值与所述截取阈值进行比较;
将目标图像特征图内小于所述截取阈值的特征值设置为0,其他特征值保持不变,获得截取后的目标图像特征图;
对所述截取后的目标图像特征图进行平均值池化,得到池化后的目标图像特征图。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据目标图像特征图的特征值,确定截取阈值,具体包括:
根据所述目标图像特征图的特征值的平均值及标准差,确定所述截取阈值。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述目标图像特征图的特征值的平均值及标准差,确定所述截取阈值,具体包括:
求取目标图像特征图的特征值的平均值μ;
求取所述目标图像特征图的特征值的标准差σ;
获得截取阈值A=μ+1.5σ。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述截取后的目标图像特征图进行平均值池化,得到池化后的目标图像特征图,具体包括:
在所述截取后的目标图像特征图中,将n*m矩阵区域内的特征值划分为一个池化区;
求取每个所述池化区的平均值,由所述平均值组成所述池化后的目标图像特征图。
5.一种物体检测方法,其特征在于,包括:
对输入图像进行多层卷积处理,获得多个特征图;
利用如权利要求1至4任一项所述的池化方法对所述特征图进行池化处理,得到多个低层次特征图和高层次特征图;
将所述低层次特征图和所述高层次特征图进行拼接,生成拼接特征图;
对所述拼接特征图进行物体分类,得到物体分类结果。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,在所述利用如权利要求1至4任一项所述的池化方法对所述特征图进行池化处理之后,还包括:
对池化处理后的特征图进行正则化处理。
7.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述对所述拼接特征图进行物体分类,得到物体分类结果,具体包括:
对所述拼接特征图进行卷积处理,得到候选框区域;
对所述候选框区域进行池化处理,得到池化结果;
将所述池化结果输入到分类网络,得到所述物体分类结果。
8.一种池化装置,其特征在于,包括:
阈值确定模块,用于根据目标图像特征图的特征值,确定截取阈值;
对比模块,用于将目标图像特征图的特征值与所述截取阈值进行比较;
特征图获取模块,用于将目标图像特征图内小于所述截取阈值的特征值设置为0,其他特征值保持不变,获得截取后的目标图像特征图;
均值池化模块,用于对所述截取后的目标图像特征图进行平均值池化,得到池化后的目标图像特征图。
9.一种物体检测装置,其特征在于,包括:
卷积模块,用于对输入图像进行多层卷积处理,获得多个特征图;
如权利要求8所述的池化装置,用于对所述特征图进行池化处理,得到多个低层次特征图和高层次特征图;
拼接模块,用于将所述低层次特征图和所述高层次特征图进行拼接,生成拼接特征图;
分类模块,用于对所述拼接特征图进行物体分类,得到物体分类结果。
10.一种物体检测系统,其特征在于,包括存储器和处理器,所述存储器上存储有可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现上述权利要求5-7任一项所述的方法的步骤。
11.一种具有处理器可执行的非易失的程序代码的计算机可读介质,其特征在于,所述程序代码使所述处理器执行所述权利要求5-7任一所述方法。
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