[发明专利]大型深坑回填方量的测量方法在审

专利信息
申请号: 201711080630.4 申请日: 2017-11-06
公开(公告)号: CN107883858A 公开(公告)日: 2018-04-06
发明(设计)人: 刘刚;杨晖彬;张超来;刘涛;张东林 申请(专利权)人: 上海市建设工程监理咨询有限公司
主分类号: G01B7/00 分类号: G01B7/00;G01B7/06;G01C5/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 200000*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 大型 深坑 回填 测量方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及工程施工技术领域,更为具体地,涉及一种大型深坑回填方量的测量方法。

背景技术

目前工程上测量深坑回填方量多数采用量取周边长度、面积、深度,确定上下口面积后进行简单计算,然后得出深坑回填所需方量;而且传统测量深坑周边长度、面积、深度等也均是量距手段进行测量。此方法虽然简单实用,易于多方理解,但与实际回填方量总是偏差较大,对于复杂地貌的深坑回填方量测量偏差更是很大,不利于成本控制。

发明内容

鉴于上述问题,本发明的目的是提供一种大型深坑回填方量的测量方法,以解决现有技术中深坑回填测量偏差较大的问题。

为了实现上述目的,本发明通过以下的技术方案来实现的:

一种大型深坑回填方量的测量方法,包括如下步骤:

S1:在基坑外架设GPS测量基准站,选取与所述GPS测量基准站能进行信号互通的GPS流动站,将所述GPS流动站与所述GPS测量基站进行坐标和标高的校核;

S2:使用与GPS测量基准站进行信号互通的GPS流动站对不同高程的深坑侧壁点进行数据采集,采集时首先选择一个高程面上,再完成该高程面上深坑侧壁点的平面坐标采集工作,然后用同样的方法逐渐完成各个高程面上的深坑侧壁点的平面坐标采集;

S3:采集完后,对GPS流动站采集的数据进行导出并进行数据处理,根据所得数据将各个高程面采集到的平面坐标点逐个连接形成一个闭合面,计算各个闭合面的面积,再根据各个闭合面的面积和相邻的闭合面的高程差即可计算出回填方量。

优选的是,步骤S1中校核方法为在基坑外架设GPS测量基准站,然后确定一坐标原点,再选取一控制点,最后在控制点处对GPS流动站的坐标和标高进行校核。

优选的是,步骤S2中,从深坑口部向深坑底部或者从深坑底部向深坑口部逐步采集各个高程面上深坑侧壁点的平面坐标。

优选的是,相邻的两个高程面的高程差为1-5m。

与现有技术相比,本发明至少具有以下的有益效果:本发明测量方法简单,测量精度较高,具有实际回填量与计算量偏差可控以及方便后期造价人员计算等优点。

为了实现上述以及相关目的,本发明的一个或多个方面包括后面将详细说明特别指出的特征。下面的说明以及附图详细说明了本发明的某些示例性方面。然而,这些方面指示的仅仅是可使用本发明的原理的各种方式中的一些方式。此外,本发明旨在包括所有这些方面以及它们的等同物。

附图说明

通过参考以下结合附图的说明内容,并且随着对本发明的更全面理解,本发明的其它目的及结果将更加明白及易于理解。在附图中:

图1为本发明实施例的测量方法流程图;

图2为本发明的一个具体实施例的测量数据结果图。

在所有附图中相同的标号指示相似或相应的特征或功能。

具体实施方式

以下将结合附图对本发明的具体实施例进行详细描述。

见图1,一种大型深坑回填方量的测量方法,包括如下步骤:

S1:在基坑外架设GPS测量基准站,选取与GPS测量基准站能进行信号互通的GPS流动站,将GPS流动站与GPS测量基站进行坐标和标高的校核。为保持信号良好,GPS测量基准站应架设在基坑外部较为空旷地带;再用GPS测量基准站测出一满足精度要求的点作为坐标原点,然后在基坑外选择一个点作为控制点,测量人员手持GPS流动站至控制点处对GPS流动站的坐标和标高进行核较,校核时直接将控制点的坐标数据输入至GPS流动站,点击校核按钮完成即可;

S2:使用GPS流动站对不同高程的深坑侧壁点进行数据采集,采集时首先选择一个高程面上,再完成该高程面上深坑侧壁点的平面坐标采集工作,然后用同样的方法逐渐完成各个高程面上的深坑侧壁点的平面坐标采集;在该步骤中,测量人员手持GPS流动站对不同高程的深坑侧壁点进行数据采集,采集时,可从深坑口部开始逐渐向深坑底部采集,先采集深坑口部所在高程面上的深坑侧壁点的平面坐标;深坑口部的坐标点采集完成后,再向下选取一个高程面上的深坑侧壁点进行平面坐标采集,相邻的两个高程面上的高程差为1-5m;相邻两个高程面的高程差可以根据现场精度要求、地貌复杂程度及造价人员对成本控制程度等来决定,如地貌复杂可以适当加密高程差采集间隔,如地貌简单,坡度舒缓可加大高程差采集间隔;当然采集时也可先从深坑底部开始逐渐向深坑口部采集;

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