[发明专利]X-射线成像的自动曝光控制方法、存储介质和医疗设备有效

专利信息
申请号: 201711079364.3 申请日: 2017-11-06
公开(公告)号: CN109745060B 公开(公告)日: 2023-03-28
发明(设计)人: 赫伟 申请(专利权)人: 上海西门子医疗器械有限公司
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201318 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 射线 成像 自动 曝光 控制 方法 存储 介质 医疗 设备
【说明书】:

本发明涉及一种X‑射线成像的自动曝光控制方法、存储介质和医疗设备。根据一实施方式,X‑射线成像的自动曝光控制方法包括:以设定的预曝光剂量Mp对一待测对象进行预曝光,获得低剂量曝光图像;在所述低剂量曝光图像上确定待测对象轮廓;在所述低剂量曝光图像上基于选定像素位置,在所述待测对象轮廓范围内界定感兴趣区域ROI;计算所述感兴趣区域ROI的平均像素值GROI;以及根据所述感兴趣区域ROI的平均像素值GROI计算主曝光剂量Mr。本发明不需使用物理AEC室,在保证图像质量的同时,降低对摆位精度的要求。

技术领域

本发明涉及医疗器械技术领域,特别是一种X-射线成像的自动曝光控制方法、计算机存储介质和X-射线医疗设备。

背景技术

通常,在X-射线医疗设备的探测器前方设置AEC室来计算每次检查的感兴趣区域ROI(Region of Interest)的预估剂量。AEC室越多,则测量的精度越高,但这会导致成本的增加。

已经提出若干不使用AEC室的方案,其中一些涉及利用一些像素或像素组来起到AEC室的作用。这些像素或像素组被逐一控制和读取。如此一来,会增加探测器的复杂度并由此增加探测器成本。例如,公开号为CN106550527A的中国发明专利申请涉及一种获取X射线图像的方法,将AEC像素布置在检测器阵列上方。

发明内容

有鉴于此,本发明一方面提出了一种X-射线成像的自动曝光控制方法,另一方面提出了一种计算机存储介质,再一方面提出了一种X-射线医疗设备。

根据一实施方式,X-射线成像的自动曝光控制方法包括:以设定的预曝光剂量Mp对一待测对象进行预曝光,获得低剂量曝光图像;在所述低剂量曝光图像上确定待测对象轮廓;在所述低剂量曝光图像上基于选定像素位置,在所述待测对象轮廓范围内界定感兴趣区域ROI;计算所述感兴趣区域ROI的平均像素值GROI;以及根据所述感兴趣区域ROI的平均像素值GROI计算主曝光剂量Mr。

其中,所述方法还可以包括:在获得低剂量曝光图像后对该图像进行均值化,获得包含像素均值化区域的均值化低曝光图像。

其中,选定像素位置可以为:所述待测对象轮廓范围内的极值像素点;或者所述待测对象轮廓范围内的中值像素点。或者,选定像素位置可以为:所述待测对象轮廓范围内的极值像素均值化区域;或者所述待测对象轮廓范围内的中值像素均值化区域。

其中,可以通过如下公式计算主曝光剂量Mr:

其中,Gtarget表示满足成像要求的预设平均像素值,D%表示预设剂量因子。

根据一实施方式,X-射线成像的自动曝光控制方法包括:以设定的预曝光剂量Mp对一待测对象进行预曝光,获得低剂量曝光图像;对所述待测对象进行拍照,获得可见光图像;在所述可见光图像上确定待测对象轮廓;在所述可见光图像上基于选定像素位置,在所述待测对象轮廓范围内界定感兴趣区域;将所述感兴趣区域映射至所述低剂量曝光图像上对应位置得到对应感兴趣区域ROI;计算所述对应感兴趣区域ROI的平均像素值GROI;以及根据所述对应感兴趣区域ROI的平均像素值GROI计算主曝光剂量Mr。

其中,所述方法还可以包括:在获得低剂量曝光图像后对该图像进行均值化,在获得可见光图像后对该图像进行均值化,分别获得包含像素均值化区域的均值化低剂量曝光图像和均值化可见光图像。

其中,选定像素位置可以为:所述待测对象轮廓范围内的极值像素点;或者所述待测对象轮廓范围内的中值像素点。或者,选定像素位置可以为:所述待测对象轮廓范围内的极值像素均值化区域;或者所述待测对象轮廓范围内的中值像素均值化区域。其中,可以通过如下公式计算主曝光剂量Mr:

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