[发明专利]指纹芯片电性能测试装置

说明书

本发明的目的是提供一种指纹芯片电性能测试装置。一种指纹芯片电性能测试装置，包括：测试系统，上料系统，收料系统；上料系统包括：设有两个送盘输送带的分盘输送装置，若干个设于两个送盘输送带之间且前后排列的料盘定位装置，设有位于第一个料盘定位装置上方的机器视觉系统的指纹芯片标识号识别装置，设有位于最后一个料盘定位装置上方的吸附机构的收料系统；测试系统包括：两个对称设置且位于分盘输送装置一侧外侧的测试装置，设有位于测试装置和其余料盘定位装置上方的吸附装置的取料装置。所述的指纹芯片电性能测试装置能自动上料、转位输送，测试效率较高。

技术领域

本发明涉及指纹识别领域，尤其是一种指纹芯片电性能测试装置。

背景技术

通讯设备更新日新月异，信息安全变得越来越重要，指纹识别技术随着通讯设备的发展变得越来越成熟，得到了广泛应用；用指纹芯片测试机对指纹芯片进行检测能指纹芯片进行分选，保证指纹芯片质量；指纹芯片测试机的结构可从申请号：201410803544.1的发明公开的一种指纹辨识芯片检测装置获得了解；传统的指纹辨识芯片检测装置存在指纹芯片不能自动上料、转位输送，测试效率较低的不足；因此，设计一种指纹芯片能自动上料、转位输送，测试效率较高的指纹芯片电性能测试装置，成为亟待解决的问题。

发明内容

本发明的目的是为了克服目前的指纹辨识芯片检测装置存在指纹芯片不能自动上料、转位输送，测试效率较低的不足，提供一种指纹芯片能自动上料、转位输送，测试效率较高的指纹芯片电性能测试装置。

本发明的具体技术方案是：

一种指纹芯片电性能测试装置，包括：测试系统；所述的指纹芯片电性能测试装置还包括：上料系统，收料系统；上料系统包括：设有两个送盘输送带的分盘输送装置，若干个设于两个送盘输送带之间且前后排列的料盘定位装置，设有位于第一个料盘定位装置上方的机器视觉系统的指纹芯片标识号识别装置，设有位于最后一个料盘定位装置上方的吸附机构的收料系统；测试系统包括：两个对称设置且位于分盘输送装置一侧外侧的测试装置，设有位于测试装置和其余料盘定位装置上方的吸附装置的取料装置。所述的指纹芯片电性能测试装置通过分盘输送装置实现装满指纹芯片的料盘的分盘输送，通过料盘定位装置实现料盘定位，通过取料装置实现将料盘中的指纹芯片输送到测试装置测试后放回料盘中，通过收料系统实现收料，能自动上料、转位输送，测试效率较高。

作为优选，所述的分盘输送装置包括：上盘基板，与上盘基板上端连接的左纵梁，两个横向直线导轨，通过横向直线导轨与上盘基板上端连接的右纵梁，两个与左纵梁后端和右纵梁后端一一对应连接的料盘后角挡板，两个与左纵梁和右纵梁一一对应连接的纵向直线导轨，两个与两个纵向直线导轨的滑块内侧一一对应连接的料盘前角挡板，角挡板锁紧组件，设有位于左纵梁和右纵梁之间的托板且与上盘基板连接的托盘机构，若干个分设于托板的前端和后端且设有与托板相对的分离倒钩的端分盘机构，若干个分设于托板的两侧端且设有楔形分离块的侧分盘机构；送盘输送带设于上盘基板上侧。