[发明专利]确定透明材料表面瑕疵/污渍所在位置的装置和方法

权利要求书

1.一种确定透明材料表面瑕疵/污渍所在位置的装置，包括：光源、相机、用于相机定位的定位装置、数据处理装置和判断装置；

其中所述光源和所述相机位于所述透明材料同一侧，所述光源发射的自然光以布儒斯特角入射到所述透明材料的表面；

所述定位装置将相机定位于入射光经所述透明材料的上表面或下表面反射后的反射光路上；

所述相机用于分别观测上表面和下表面的成像，所述相机的镜头前设置有s偏振片；

所述数据处理装置用于记录入射位置信息和所述相机观测到的成像信息，并对成像信息进行处理获得成像的强度；

所述判断装置根据相机观测到的瑕疵/污渍的光强来判断瑕疵/污渍的位置。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，成像的强度通过在同一曝光时间下成像的饱和度或颜色来获得。

3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，当相机只能在其中一个表面中的反射光路上观测到瑕疵/污渍的成像信息时，判断装置根据观测到瑕疵/污渍时相机的位置判断瑕疵/污渍的位置，当相机在两个表面的反射光路上都能观测到瑕疵/污渍的成像信息时，判断装置根据瑕疵/污渍成像的强度来判断瑕疵/污渍的位置。

4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置包括两个相机，分别定位于入射光经透明材料的上表面和下表面反射后的反射光路上。

5.一种确定透明材料表面瑕疵/污渍所在位置的装置，包括光源、第一相机、第二相机、分光器件、定位装置、数据处理装置和判断装置；

其中所述光源和所述第一相机、第二相机位于所述透明材料同一侧，所述光源发射的自然光以布儒斯特角入射到所述透明材料的表面；

定位装置将第一相机和第二相机分别定位于入射光经透明材料的上表面和下表面反射后的反射光路上；

入射光经透明材料的上表面或下表面反射后通过所述分光器件分别进入所述第一相机和所述第二相机，其中上表面反射光的s分量经s偏振片进入所述第一相机，下表面反射光的p分量经过p偏振片进入所述第二相机；

所述数据处理装置用于记录入射位置信息以及第一相机和第二相机观测到的成像信息；

所述判断装置根据所述第一相机和所述第二相机观测到的瑕疵/污渍的成像来判断瑕疵/污渍的位置。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，当分光器件为偏振分光器件时，去除两个相机前放置的偏振片。

7.根据权利要求1或5所述的装置，其特征在于，所述光源为线光源。

8.根据权利要求1或5所述的装置，其特征在于，还包括用于移动所述透明材料的移动装置。

9.利用权利要求1-4和7-8中任一项所述装置确定透明材料表面瑕疵/污渍所在位置的方法，包括：

(1)将相机定位于入射光经透明材料的上表面或下表面反射后的反射光路上；

(2)移动透明材料分别完成对上表面和下表面的扫描，并记录各位置的成像和光强；

(3)根据瑕疵/污渍的成像信息来判断瑕疵/污渍的位置。

10.利用权利要求5-8中任一项所述装置确定透明材料表面瑕疵/污渍所在位置的方法，包括：移动透明材料分别完成对上表面和下表面的扫描，如果在第一相机上检测到瑕疵/污渍，则判断其位置在上表面；如果在第二相机上检测到瑕疵/污渍，则判断其位置在下表面。