[发明专利]基板、面板、检测装置以及对准检测方法有效

专利信息
申请号: 201711058191.7 申请日: 2017-11-01
公开(公告)号: CN109754732B 公开(公告)日: 2021-01-22
发明(设计)人: 赵普查;张国庆;白晓鹏;王伟峰;党延斌;郭志鑫;王星亮;陈浩田 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00;G02F1/13;H01L27/32;H01L21/66
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 彭久云
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 基板 面板 检测 装置 以及 对准 方法
【说明书】:

一种基板、面板、检测装置以及对准检测方法。该基板包括:多个并排平行设置的第一信号连接引脚和至少一个第一对位检测引脚。至少一个第一对位检测引脚位于多个第一信号连接引脚的在其排列方向上的至少一侧,与第一信号连接引脚平行布置。检测装置包括多个并排平行设置的第二信号连接引脚和多个第二对位检测引脚。多个第二对位检测引脚位于多个第二信号连接引脚的在其排列方向上的至少一侧,与第二信号连接引脚平行布置。将该检测装置与基板彼此对准接触的过程中,可以检测第一信号连接引脚与第二信号连接引脚是否对位准确,防止因其对位不准而造成的短路问题。

技术领域

本公开至少一实施例涉及一种基板、面板、检测装置以及对准检测方法。

背景技术

在显示面板的生产领域中,通常要通过检测设备对制备过程中的显示面板或基板(包括母板)进行点灯测试,在此阶段中可以检测出制备过程中的显示面板或基板是否有断线、坏点等,例如导致亮点或暗点的缺陷。点灯测试阶段对于显示面板或基板品质的管控重要。

发明内容

本公开至少一实施例提供一种基板,其包括:多个并排平行设置的第一信号连接引脚和至少一个第一对位检测引脚。至少一个第一对位检测引脚位于所述多个第一信号连接引脚的在其排列方向上的至少一侧,与所述第一信号连接引脚平行布置。

例如,该基板还包括工作区域,所述工作区域设置有多条彼此平行布置的信号线;每一个所述第一信号连接引脚具有第一端和第二端,所述第一信号连接引脚的第一端与所述信号线电连接。

例如,该基板中,位于所述多个第一信号连接引脚的每一侧的所述第一对位检测引脚的个数为1。

例如,该基板中,所述第一对位检测引脚悬空设置。

例如,该基板中,所述第一对位检测引脚的材料的电导率大于所述第一信号连接引脚的材料的电导率。

本公开至少一实施例还提供一种面板,其包括本公开一实施例提供的基板。

本公开至少一实施例还提供一种检测装置,其包括多个并排平行设置的第二信号连接引脚和多个第二对位检测引脚。多个第二对位检测引脚位于所述多个第二信号连接引脚的在其排列方向上的至少一侧,与所述第二信号连接引脚平行布置。

例如,该检测装置还包括测试电路和对位电路。每一个所述第二信号连接引脚具有第一端和第二端,所述测试电路与所述第二信号连接引脚的第一端电连接并为所述第二信号连接引脚发送测试信号;对位电路与所述第二对位检测引脚电连接并为所述第二对位检测引脚发送对位信号以及接收来自所述第二对位检测引脚的对位检测结果信号。

例如,该检测装置中,所述第二信号连接引脚配置为接收来自所述检测装置的检测信号,所述第二对位检测引脚配置为接收来自所述检测装置的对位信号以及回传对位检测结果信号。

例如,该检测装置还包括控制装置,其中,所述控制装置配置为控制所述测试电路和所述对位电路的开启与关闭,并控制所述测试电路向所述第二信号连接引脚发出测试信号以及控制所述对位电路向所述第二对位检测引脚发出对位信号。

例如,该检测装置中,位于所述多个第二信号连接引脚的每一侧的所述第二对位检测引脚的个数为3。位在每一侧的所述第二对位检测引脚排列方向上,位于中间的所述第二对位检测引脚用于接收对位信号,相应地,位于所述中间的第二对位检测引脚的两侧的所述第二对位检测引脚用于发送对位检测结果信号。

例如,该检测装置中,位于所述第二信号连接引脚的两侧的每一侧的所述第二对位检测引脚的个数为2;靠近所述第二信号连接引脚的2个所述第二对位检测引脚用于接收对位信号,相应地,远离所述第二信号连接引脚的2个所述第二对位检测引脚用于发送对位检测结果信号;或者,远离所述第二信号连接引脚的2个所述第二对位检测引脚用于接收对位信号,相应地,靠近所述第二信号连接引脚的2个所述第二对位检测引脚用于发送对位检测结果信号。

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