[发明专利]阵列基板、显示装置、数据线不良的检测装置及检测方法

说明书

本发明提供一种阵列基板、显示装置、数据线不良的检测装置及检测方法，属于显示技术领域，其可解决现有的检测方式中数据线似连似断等异常连接不易被检出的问题。本发明的阵列基板中数据信号输入总线向各个像素单元提供数据信号，该阵列基板在数据信号输入总线相对的另一侧增加了检测线，这样在检测产品时，数据信号输入总线输入正常的数据信号，另一侧的检测线输入与数据信号相反极性的信号，那么在数据线虚接的位置处会出现发热情况，并将虚接的位置处烧毁，因此其可以实现快速检测全部数据线，准确将虚接数据线检出。本发明的数据线不良的检测装置和检测方法适用于检测上述的阵列基板，检测过程简单，方便快捷。

技术领域

本发明属于显示技术领域，具体涉及一种阵列基板、显示装置、数据线不良的检测装置及检测方法。

背景技术

显示面板的制备需经过阵列(Array)工艺、成盒(Cell)工艺和模组(Moduel)工艺。其中，Array工艺一般包括栅线和数据线的制备、薄膜晶体管的制备、像素电极的制备等。显示面板包括多行栅线和多列数据线，多行栅线和多列数据线限定出多个像素。

在Array工艺中，由于工艺缺陷、操作失误及工艺精度等原因，数据线可能会出现不良，现有检测数据线不良的方法主要是：利用Array检测设备向所有的数据线输入数据信号，将所有的像素点亮；根据像素点亮、暗点以确定是否存在数据线不良。

发明人发现现有技术中至少存在如下问题：如图1所示，异常产品在制程过程中可能出现图1所示的似连似断的异常连接，这种虚接状态在检测过程中可以使得像素点亮，但是在后期则会出现不良，即现有的检测方式中一些似连似断等异常连接不易被发现，此类产品往往不能有效在制程阶段有效拦截，给产品品质造成影响。

发明内容

本发明针对现有的检测方式中数据线似连似断等异常连接不易被检出的问题，提供一种阵列基板、显示装置、数据线不良的检测装置及检测方法。

解决本发明技术问题所采用的技术方案是：

一种阵列基板，包括：多条栅线、多条数据线、所述栅线与所述数据线交叉定义的像素单元，所述阵列基板还包括与多条数据线连接的数据信号输入总线，以及与多个像素单元连接的用于提供检测信号的检测线，其中，所述检测信号的极性与所述数据信号的极性相反。

优选的是，所述检测线设于像素单元远离所述数据信号输入总线的一侧。

优选的是，所述数据信号输入总线与多条数据线之间设有第一开关组，用于控制数据信号输入总线与多条数据线之间的通断。

优选的是，所述数据信号输入总线包括用于向奇数列数据线提供数据信号的第一引线和用于向偶数列数据线提供数据信号的第二引线，所述第一引线与第二引线的数据信号不同。

优选的是，所述第一开关组包括第三开关和第四开关，所述第三开关设于第一引线与奇数列数据线之间，用于控制第一引线与奇数列数据线之间的通断；所述第四开关设于第二引线与偶数列数据线之间设有，用于控制第二引线与偶数列数据线之间的通断。

优选的是，所述检测线与像素单元之间设有第二开关组，用于控制检测线与像素单元之间的通断。

优选的是，所述检测线包括第一检测线和第二检测线，所述第一检测线提供的检测信号与对应的第一引线提供的数据信号的极性相反；所述第二检测线提供的检测信号与对应的第二引线提供的数据信号的极性相反。

优选的是，所述第二开关组包括第五开关和第六开关；所述第五开关设于第一检测线与对应的像素单元之间，用于控制第一检测线与对应的像素单元之间的通断；所述第六开关设于第二检测线与对应的像素单元之间，用于控制第二检测线与对应的像素单元之间的通断；

其中，所述第五开关与第三开关同时导通或关断，所述第六开关与第四开关同时导通或关断。