[发明专利]表面等离子体性能可调的基底及制备方法在审

专利信息
申请号: 201711043664.6 申请日: 2017-10-31
公开(公告)号: CN107703105A 公开(公告)日: 2018-02-16
发明(设计)人: 洪瑞金;邵文;孙文峰;邓操;陶春先;张大伟 申请(专利权)人: 上海理工大学
主分类号: G01N21/552 分类号: G01N21/552
代理公司: 上海申汇专利代理有限公司31001 代理人: 吴宝根,王晶
地址: 200093 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 表面 等离子体 性能 可调 基底 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种表面等离子体性能可调的基底,包括一个PDMS基片,所述的PDMS基片上转移有AAO模板的纳米柱阵列结构,其特征在于:具有纳米柱阵列结构的PDMS基片上沉积有贵金属膜层。

2.根据权利要求1所述的表面等离子体性能可调的基底,其特征在于:所述贵金属膜层的材料为Ag或Au或Pt。

3.一种权利要求1或2所述的表面等离子体性能可调的基底的制备方法,其特征在于,具体步骤如下:

1)将AAO模板上的结构转移到PDMS基片上,使PDMS基片表面具有纳米柱阵列结构;

2)在制作后的PDMS基片上沉积贵金属膜层,得到一种表面等离子体性能可调的基底;

3)对制作后的表面等离子体性能可调的基底进行拉伸:将制作后的贵金属PDMS基底平整的放置于一维平移拉伸夹中,基底一端固定,另一端夹在可移动平台上,使制作后的贵金属PDMS基底沿着移动平台移动方向在PDMS弹性范围内拉伸一定的长度;

4)对拉伸后的基底进行检测:检测拉伸后基底的吸收光谱,拉伸基底可实现对表面等离子体性能调控。

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