[发明专利]一种计量芯片基准电压的测量装置及方法

说明书

技术领域

本发明涉及电能表质量监测的技术领域，尤其涉及一种计量芯片基准电压的测量装置及方法。

背景技术

智能电能表是建立全国范围智能电网的重要设备，其电能计量准确性直接关系用户和国家电网的切身利益。为了在生产过程中对智能电表的质量进行实时的把控与监测，需要对电能表各关键元器件的性能指标进行评测，而计量芯片作为电能表计量回路的核心元器件直接影响到电能表的计量精度，其主要性能指标为A/D转换过程中的基准电压。而目前在生产及研发过程中，仍没有对于电能表计量芯片性能进行测试的装置，从而使得对于电表在生产过程中无法对于计量芯片的性能进行监测，这将会使得电能表的计量精度具有很大的不确定性，进而会影响批次产品的计量误差及其一致性。同时在现有技术中，对电能表的计量芯片基准电压的测试均需要将待测计量芯片焊接到测试电路中，对批量产品进行抽样检测，一经测试的计量芯片无法再次使用，也无法对多个计量芯片进行批量测试。针对现有技术的如上缺陷，急需一套可以快速、批量测试计量芯片的测试装置。

发明内容

为了解决现有技术中的缺陷，本发明提供了一种计量芯片基准电压的测量装置，以实现对电能表的计量芯片进行批量测试，通过检测计量芯片的性能来保证电能表的计量精度，从而维护用户和国家电网的切身利益。

为了实现上述目的，本发明实施例提供一种计量芯片基准电压的测量装置，包括：计量芯片测量电路及SOP-DIP转换器；

所述SOP-DIP转换器通过其上的多个管脚电连接所述计量芯片测量电路；

待测计量芯片电连接于所述SOP-DIP转换器上表面，通过所述计量芯片测量电路对所述待测计量芯片的基准电压进行测量。

本发明的有益效果是：本发明采用计量芯片测量电路电连接SOP-DIP转换器，将待测计量芯片电连接于SOP-DIP转换器的表面，通过计量芯片测量电路及SOP-DIP转换器测试待测计量芯片，监测待测计量芯片的性能，实现对计量芯片的批量测试。本发明实现了对电能表的核心器件即计量芯片的批量测试，通过检测计量芯片的基准电压值监测计量芯片的性能，从而保证电能表的计量精度及维护用户和国家电网的切身利益。

根据上述计量芯片基准电压的测量装置，本发明实施例还提供了一种计量芯片基准电压的测量方法，包括：

将待测计量芯片贴置于SOP-DIP转换器表面；

通过万用表读取计量芯片测量电路中的所述待测计量芯片的基准电压值；

计算参考基准电压值与所述基准电压值之间的差值；

判断所述差值是否大于误差值；如果是，则所述计量芯片的性能异常。

本发明提供的计量芯片基准电压的测量方法，解决了现有技术中无法快速、批量检测计量芯片基准电压的问题。本发明提供的计量芯片基准电压的测量方法，首先将待测计量芯片贴置于SOP-DIP转换器表面，然后使用万用表读取计量芯片测量电路中的待测计量芯片的基准电压值，计算参考基准电压值与万用表读取的待测计量芯片基准电压值之间的差值，判断该差值是否在允许的误差值内的方法，实现了快速、批量检测计量芯片的基准电压，从而监测计量芯片的性能是否异常，从而达到保证电能表的计量精度及维护用户和国家电网的切身利益的有益效果。

针对目前无法快速、批量检测待测计量芯片基准电压的问题，本发明实施例提供了一种计量芯片基准电压的测量装置及方法，本发明采用计量芯片测量电路电连接SOP-DIP转换器，将待测计量芯片电连接于SOP-DIP转换器的表面，通过计量芯片测量电路及SOP-DIP转换器测试待测计量芯片，使用万用表读取计量芯片测量电路中的待测计量芯片的基准电压值，计算参考基准电压值与万用表读取的待测计量芯片基准电压值之间的差值，判断该差值是否在允许的误差值内的方法，监测待测计量芯片的性能，实现对计量芯片的批量测试。本发明实现了对电能表的核心器件即计量芯片的批量测试，通过检测计量芯片的基准电压值监测计量芯片的性能，从而保证电能表的计量精度及维护用户和国家电网的切身利益。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明计量芯片基准电压的测量装置的结构示意图；

图2是本发明一实施例中计量芯片基准电压的测量装置的电路结构示意图；