[发明专利]内联错误检测和校正技术

说明书

本发明公开了内联错误检测和校正技术。根据本技术的实施例，基于区域的选择性错误检测和校正技术提供了错误检测和错误校正(EDEC)保护的安全性以及用于不同用途的非EDEC保护的更高带宽和容量之间的权衡。

背景技术

随机存取存储器通常用于快速访问指令和数据。然而，诸如动态随机存取存储器(dynamic random-access memory，DRAM)的存储器容易受到存储器单元的状态(例如， 软错误)的一次性更改(one-off change)。因此，使用存储器错误检测和错误校正(errordetection and error correction，EDEC)技术来防止这种软错误。EDEC还可以检测硬错误和永久性故障。EDEC通常用于多用户服务器、最大可用性系统、一些科学和金融计算应用、深空应用(由于辐射增加)以及车辆中的驾驶员辅助应用。然而，EDEC技术在大多数 其他计算机系统中都不被利用，以降低成本。此外，EDEC技术由于存储EDEC代码所需的 额外内存以及生成EDEC代码以及使用EDEC代码检测和校正错误所需的额外时间，从而降 低性能。

发明内容

通过参考以下描述和附图可以最好地理解本技术。描述和附图用于说明本技术的实 施例，其针对内联(inline)错误检测和校正(EDEC)技术。

内联错误检测和校正技术包括存储器的一个或更多EDEC启用部分和一个或更多EDEC禁用部分。可以是存储器地址的函数的控制位可以指示对于存储器的相应部分是否启用或禁用EDEC。分配用于存储EDEC代码的存储器可以分配在每个相应的EDEC启用和EDEC禁用部分中、每个相应的EDEC启用和EDEC禁用部分内的多个子部分中的每一个中，或在 存储器的单独的EDEC代码部分中。在写入操作期间，可以为存储器的EDEC启用部分生成 并存储EDEC代码。然而，如果存储器的一部分是EDEC禁用部分，则不生成以及存储EDEC 代码。在读取操作期间，可以从EDEC启用部分读取EDEC代码，并用于检测和校正其中的 错误。这种技术，这里称为基于区域的选择性EDEC检查技术，减少了计算工作负载和存 储器总线利用率，因为EDEC代码不被生成并存储用于存储器的EDEC禁用部分。同样地， 由于EDEC代码不从存储器的EDEC禁用部分读取，所以计算工作负载和存储器总线利用率 降低。

在另一个实施例中，用于存储EDEC代码的存储器可以被分配给EDEC启用部分，而不分配给EDEC禁用部分。分配用于存储EDEC代码的存储器可以被分配在每个相应的EDEC启用部分中、每个相应的EDEC启用部分内的多个子部分中的每一个中，或在存储器的单 独的EDEC代码部分中。在写入操作期间，可以为存储器的EDEC启用部分生成和存储EDEC 代码。然而，如果存储器的一部分是EDEC禁用部分，则不生成以及存储EDEC代码。在读 取操作期间，可以从EDEC启用部分读取EDEC代码，并用于检测和校正其中的错误。这种 技术，这里称为基于区域的选择性EDEC映射技术，减少了计算工作负载和存储器总线利 用率，因为EDEC代码不被生成并存储用于存储器的EDEC禁用部分。同样地，由于EDEC 代码不从存储器的EDEC禁用部分读取，所以计算工作负载和存储器总线利用率降低。该 技术允许增加存储空间利用率，因为用于存储EDEC代码的存储器不分配给EDEC禁用部分。

在另一个实施例中，周期性EDEC技术可以应用于包括一个或更多EDEC启用部分和一个或更多EDEC禁用部分的存储器。特别地，周期性地选择存储器的多个EDEC启用部分 中的每一个用于错误检测和错误校正。然后，将包含该字的任何校正的字或EDEC启用部 分存储回存储器中。可以有利地在低系统利用期间执行周期性EDEC技术，同时在数据存 储较长时间时减少多比特错误的机会。

提供本发明内容以简化的形式介绍一些概念，这些概念将在下面的具体实施方式中 进一步描述。本发明内容并不旨在标识所要求保护的主题的关键特征或基本特征。本发明 内容也不旨在用于限制所要求保护的主题的范围。

附图说明

在附图中以示例而非限制的方式示出了本技术的实施例。