[发明专利]一种智慧型数字集成电路故障检测系统

说明书

技术领域

本发明属于电力电子技术领域，尤其涉及一种智慧型数字集成电路故障检测系统。

背景技术

数字集成电路在电路中的应用非常普及,常用的有T T L74、T T L54系列，CMOS4000、CMOS4500系列等。在调试和维修电路过程中常需要对芯片进行测试,以判别其好坏。在数字电路系统中,集成电路的错误通常分为两类:一类是逻辑错,一类是参数错。集成电路的任何输入或输出端可被“恒置0”或“恒置1”,这就是逻辑错。另外,短路和开路也被认为是逻辑错。在数字系统中检测这些错误通常使用静态测试和动态测试的方法。静态测试(在线功能测试)对小规模集成电路和许多中规模集成电路芯片的测试非常重要。这种对数字集成电路芯片进行在线功能测试的基本方法是从输入端加上所需的激励信号,检测其相应的输出响应,并将输出响应与预期的正确结果进行比较,由此来判断其是否存在故障。本发明专利利用单片机来测试数字集成电路，该测试仪可以对TT L74、T T L54系列,CMOS4000、CMOS4500系列集成电路芯片进行功能性故障检测。

发明内容

针对上述现有技术存在的缺陷和不足，本发明的目的在于，提供一种智慧型数字集成电路故障检测系统，本发明的能够实现对T T L74、54系列芯片的故障测试,并能达到提高测试效率,减少测试时间的目的,具有良好的移植扩展性。

为了实现上述任务，本发明采用如下的技术解决方案：

一种智慧型数字集成电路故障检测系统，其特征在于，由英飞凌XC2238N单片机、可编程输入/输出口、被测芯片插座、电源控制、储存空间分配单元、8279芯片单元组成；所述的英飞凌XC2238N单片机同时与储存空间分配单元、可编程输入/输出口以及8279芯片单元相连；所述的可编程输入/输出口与被测芯片插座相连；所述的电源控制同时与被测芯片插座和英飞凌XC2238N单片机相连；所述的储存空间分配单元包括E2PROM和RAM两种存储器；所述的8279芯片单元包括LED显示器与键盘两种输入输出设备。

本发明的有益效果是：

该IC测试系统是以单片机为核心,配合控制程序和外围扩展电路来全面模拟被测器件的综合功能,通过程序生成所需的激励信号送给待测芯片,并将待测芯片的输出响应与单片机中的标准结果进行比较,从而判断被测IC芯片的好坏。集成电路芯片的故障可以用固定性故障模型来确定对应关系。针对本次设计的测试对象主要为集成数字组合电路芯片,应用固定型单逻辑故障假设推导出来的测试集就能覆盖绝大部分故障。所谓固定型单逻辑故障,即假定仅有一个输入或输出存在S–a-0或S–a-1的故障。选择布尔差分算法来作为本次设计的测试集算法。

该测试系统由89c51单片机、可编程输入/输出口、E2PROM、RAM、LED显示器和键盘等组成。该系统的E2PROM中存有各种集成电路芯片的最小测试集和标准结果。在电路中采用多个可编程I/O接口芯片与测试插座相连,原因在于在测试各种IC芯片时不尽相同,电路设计时的插座引脚一经接好就不能更动。为了保证CPU输出的信息能更有效地传送到被测IC芯片的输入端,还要保证CPU能有效地从被测IC芯片的输出端读入响应值,就希望不更改硬件的连接,而又能根据IC芯片的不同而更改输入输出引脚的位置,这只有使用可编程接口芯片才能完成。测试时,先将待测芯片插好并通过键盘输入被测芯片的型号,然后启动测试运行键。由监控测试程序分时分组送出被测芯片的测试集,并对测试结果数据进行分析处理之后通过LED显示出来。

该数字集成电路故障检测系统结构简单、成本低廉，能够实现对T T L74、54系列芯片的故障测试,并能达到提高测试效率,减少测试时间的目的,具有良好的移植扩展性。

附图说明

以下结合附图和具体实施方式对本发明作进一步的解释说明。

图1是数字集成电路故障检测系统的框架图。

具体实施方式

如图1是一种智慧型数字集成电路故障检测系统的结构框图，该测试系统由89c51单片机、可编程输入/输出口、E2PROM、RAM、LED显示器和键盘等组成，数字集成电路故障检测仪的E2PROM中存有各种集成电路芯片的最小测试集和标准结果，所述的英飞凌XC2238N单片机同时与储存空间分配单元、可编程输入/输出口以及8279芯片单元相连，所述的可编程输入/输出口与被测芯片插座相连，所述的电源控制同时与被测芯片插座和英飞凌XC2238N单片机相连，所述的储存空间分配单元包括E2PROM和RAM两种存储器，所述的8279芯片单元包括LED显示器与键盘两种输入输出设备。

本发明专利提供的数字集成电路故障检测仪能够实现对TTL74、54系列芯片的故障测试,并能达到提高测试效率,减少测试时间的目的,具有良好的移植扩展性。