[发明专利]微米CT岩芯前处理方法及设备

说明书

技术领域

本申请涉及微米CT岩芯分析技术领域，尤其是涉及一种微米CT岩芯前处理方法及设备。

背景技术

微米CT岩芯分析技术已经发展为岩芯分析技术领域中非常重要技术手段，可以用于岩芯孔隙与裂缝表征、三维孔隙连通性表征等研究。目前微米CT最大分辨率可为几微米，用于微米CT观测的岩芯样品为直径可为几毫米的岩芯样品。岩芯观测之前需要将岩芯样品用胶粘贴在碳棒上，并保证岩芯样品垂直；如果岩芯样品角度发生倾斜，则岩芯样品在扫描过程中，会导致上下两端与微米CT射线源距离不一致，从而增大了岩芯样品与射线源距离；根据X射线光学成像原理，岩芯样品与射线源距离增大将会大大降低分辨率。因此保证岩芯样品垂直对于微米CT扫描实验而言十分关键。

目前国内外在制备微米CT岩芯样品时，主要是通过砂纸等将岩芯样品底部磨平后，然后用胶粘贴将岩芯样品底部粘合于碳棒的上端，之后静置岩芯样品与碳棒的固化。然而，这种方法在实际操作中存在的很多问题：(1)岩芯样品底部在通过砂纸打磨时，存在很大主观操作性，几mm的岩芯样品仅靠人工肉眼去判断完全水平难度极大，因此往往打磨出的底面是多个不平面，或者是一个非水平面；(2)岩芯样品很小，将岩芯样品放置到碳棒上需要谨小慎微，稍微的抖动都可能导致岩芯样品发生大角度倾斜或掉落，常常需要再次涂胶放置；(3)岩芯样品与碳棒的固化过程可能需要几个小时，桌面的晃动、风的吹动都有可能导致岩芯倾斜。

综上所述，目前亟需一种可保证岩芯样品垂直，且操作方便易于实现的微米CT岩芯制样方案。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种操作方便，易于实现的微米CT岩芯前处理方法，且可保证制出的样品垂直。

为达到上述目的，一方面，本申请实施例提供了一种微米CT岩芯前处理方法，包括：

将待处理的岩芯样品置于金属直管中，且使所述岩芯样品的下端伸出所述金属直管的下端；所述金属直管的外径与所述岩芯样品的直径相配合，且所述金属直管的下端面为水平面；

以所述金属直管的下端面作为切面，将所述岩芯样品的下端伸出所述金属直管的部分切除；

将与所述岩芯样品直径相同的碳棒置于收纳筒中，且使所述碳棒的上端伸出所述收纳筒的上端；所述收纳筒可相对于所述碳棒上下移动，且所述碳棒的上端面为水平面；

从所述金属直管中取出岩芯样品，并将其下端与所述碳棒的上端对齐粘合；

向上移动所述收纳筒，使所述碳棒及所述岩芯样品置于所述收纳筒内；

静置设定时间后，向下移动所述收纳筒以取出碳棒与岩芯样品的粘合体。

优选的，所述收纳筒下方设有水平底座，所述收纳筒与所述水平底座螺纹连接。

优选的，所述碳棒固定于所述水平底座上。

优选的，所述碳棒的下部与所述水平底座螺纹连接固定。

优选的，所述碳棒的直径小于所述收纳筒的内径。

优选的，所述设定时间包括3～5小时。

优选的，所述金属直管的外径与所述岩芯样品的直径相同。

另一方面，本申请实施例还提供了一种微米CT岩芯前处理设备，包括：

水平底座；以及，

收纳筒，位于所述水平底座上方，且与所述水平底座螺纹连，以用于收纳碳棒及岩芯样品；所述收纳筒可相对于所述碳棒上下移动。

优选的，所述水平底座的上部中央开设有用于固定碳棒的螺纹孔。

优选的，所述螺纹孔的直径小于所述收纳筒的外径。

由以上本申请实施例提供的技术方案可见，本申请实施例将岩芯样品置于金属直管中，使岩芯样品的下端伸出金属直管的下端；金属直管的外径与岩芯样品的直径相配合，金属直管的下端面为水平面；以金属直管的下端面作为切面，将岩芯样品的下端伸出金属直管的部分切除；将与岩芯样品直径相同的碳棒置于收纳筒中，使碳棒的上端伸出收纳筒的上端；收纳筒可相对于碳棒上下移动，碳棒的上端面为水平面；从金属直管中取出岩芯样品，并将其下端与碳棒的上端对齐粘合；向上移动收纳筒，使碳棒及所述岩芯样品置于收纳筒内；静置设定时间后，向下移动收纳筒以取出碳棒与岩芯样品的粘合体，从而实现了微米CT岩芯制样。