[发明专利]一种X射线荧光检测银饰品中锑元素含量的设备及方法

权利要求书

1.一种X射线荧光检测银饰品中锑元素含量的设备，其特征在于：包括探测器和X射线高压发生器，所述X射线高压发生器通过X射线管将样品产生的X射线通过窗口进入探测器中，探测器的输出端与冷却单元的输入端电性连接，冷却单元的输出端与前置放大器的输入端电性连接；所述前置放大器的输出端与脉冲处理器的输入端电性连接；所述脉冲处理器的输出端与主放大器的输入端电性连接，且主放大器的输出端与多道分析器的输入端电性连接；所述多道分析器的输出端与智能缓冲器的输入端电性连接，且智能缓冲器的输出端与计算机的输入端电性连接。

2.一种X射线荧光检测银饰品中锑元素含量的方法，其特征在于：具体包括如下步骤：

首先需要制作银锑标准物质，计划制作纯银、银含锑Sb 0.5％、银含锑Sb 1％、银含锑Sb 2％的4种标准物质；

取99.99％的标准银锭，进行切割称重，使用千分之一天平分别称出9.950克、9.900克、9.800克(精度误差0.001克)；对应取纯度为99.99％的锑粉0.050克、0.100克、0.200克(精度误差0.001克)；使用TNRY-02C全自动X荧光光谱分析专用全自动熔样机进行熔融操作，分别把9.950克银和0.050克锑粉、9.900克银和0.100克锑粉、9.800克银和0.200克锑粉放入熔样机坩埚，温度调至1050摄氏度；使用熔样机的优势在于，全程自动处理，温度控制平稳、熔融后的成品均匀度非常好；熔融后的成品为厚度为3mm直径为25mm的圆片，分别在每个圆片上截取三个不同点的样品，用电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP)进行锑含量检测，三点结果结果取平均值，与计划制作的银锑标准物质0.5％Sb、1％Sb、2％Sb吻合很好，说明制作的银锑标准物质可以作为下一步制作工作曲线的标样；

使用能量色散X射线荧光光谱仪测定锑Sb，首先确定测定条件，选择锑元素的Kα谱线，电压调至42.0KV，电流调至0.3mA，检测时间60秒；

然后分别测定4块标准物质，得到锑Sb元素的荧光强度，其锑元素Sb是与其含量成正比关系；

最后使用线性回归曲线法中的最小二乘法，计算出Y＝kX+b方程。