[发明专利]具有自检功能的实时时钟芯片系统及其检测方法在审
申请号: | 201711007385.4 | 申请日: | 2017-10-18 |
公开(公告)号: | CN109683659A | 公开(公告)日: | 2019-04-26 |
发明(设计)人: | 孙巍巍 | 申请(专利权)人: | 天津市中力神盾电子科技有限公司 |
主分类号: | G06F1/14 | 分类号: | G06F1/14;G01R31/28 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 300384 天津市滨海高新区华苑*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 实时时钟芯片 检测 中央处理器 电池电路 晶振电路 自检功能 检测模块 通信数据总线 一次性检测 硬件电路板 工作效率 通信连接 系统检测 电连接 全面性 电子产品 电路 通信 | ||
本发明提供了一种具有自检功能的实时时钟芯片系统及其检测方法。所述具有自检功能的实时时钟芯片系统包括实时时钟芯片、电池电路、晶振电路和中央处理器,中央处理器具有检测模块,检测模块用于检测实时时钟芯片系统的状态,中央处理器与实时时钟芯片通过通信数据总线通信连接,实时时钟芯片分别与电池电路和晶振电路电连接。采用本发明技术方案,可以快速准确且全面地检测实时时钟芯片及其电路的故障,检测效率高,检测成本低,一次性检测即可快速准确地对实时时钟芯片通信、电池电路、晶振电路、实时时钟芯片是否存在异常进行检测,提高实时时钟芯片系统检测的全面性和检测的工作效率,进一步提高对电子产品硬件电路板的检测效率。
技术领域
本发明属于电子元器件及其检测技术领域,具体涉及一种具有自检功能的实时时钟芯片系统及其检测方法。
背景技术
目前,电子产品正朝数字化和智能化方向迈进,电子产品硬件电路板在生产组装、出厂检测和产品维护检修时,需要对硬件电路板中的各个器件或电路进行逐个检测和排查。其中,实时时钟芯片(Real Time Clock,RTC)及其电路作为硬件电路板中的重要组成之一,在调试或检修时,也需要对其进行检测。常规对实时时钟芯片及其电路进行检测的方法,通常采用硬件电路测试,在电路板中增加测试点,通过仪表手动测试其电性能指标,以判断是否其合格;或者采用软件进行测试,读取或设置RTC时间,如果设置或读取正确,即判断为正常;以上检测方式存在测试效率低,需要增加硬件仪器成本,检测费用高,测试不够全面(没有对RTC时钟计时功能进行测试)的缺点。
因此,为解决以上问题,本发明公开了一种具有自检功能的实时时钟芯片系统及其检测方法,在电子产品生产组装、出厂检测和维护检修时,可以快速准确地对实时时钟芯片及其电路进行全面检测,提高检测工作效率,节省检测成本。
发明内容
本发明的实施例提供一种具有自检功能的实时时钟芯片系统及其检测方法,以解决现有检测方式所存在的问题,以快速准确地对实时时钟芯片及其电路进行全面检测,提高检测工作效率,节省检测成本。
为达到上述目的,本发明的实施例提供了一种具有自检功能的实时时钟芯片系统,包括:实时时钟芯片、电池电路和晶振电路,其特征在于,所述实时时钟芯片系统还包括中央处理器,所述中央处理器具有检测模块,所述检测模块用于检测实时时钟芯片系统的状态,所述中央处理器与实时时钟芯片通过通信数据总线通信连接,所述实时时钟芯片分别与电池电路和晶振电路电连接。
进一步地,所述实时时钟芯片系统的状态包括:中央处理器与实时时钟芯片通信是否正常、和/或电池电路是否正常、和/或晶振电路是否正常、和/或实时时钟芯片系统是否正常的状态。
进一步地,所述检测模块包括:
特征值写入模块,用于在实时时钟芯片系统上电时将特征值写入到实时时钟芯片的数据寄存器中;
特征值读取模块,用于读取实时时钟芯片数据寄存器中的特征值;
时间采集模块,用于每间隔一单位时间采集一实时时钟芯片时间;
检测结果生成模块,用于根据所读取的特征值和/或所采集的实时时钟芯片时间,生成用于表征实时时钟芯片系统状态的检测结果。
进一步地,所述单位时间为0.000001~100秒;
优选地,所述单位时间为为1秒。
进一步地,所述检测结果生成模块包括:
第一检测结果生成单元,用于根据对特征值是否能够正常读取的判断,是则生成用于表征中央处理器与实时时钟芯片通信正常的检测结果;否则生成用于表征中央处理器与实时时钟芯片通信异常的检测结果;
第二检测结果生成单元,用于根据对所读取到的特征值是否正确的判断,是则生成用于表征电池电路正常的检测结果;否则生成用于表征电池电路异常的检测结果;
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