[发明专利]OLED背板的制作方法有效
| 申请号: | 201711004263.X | 申请日: | 2017-10-24 |
| 公开(公告)号: | CN107611085B | 公开(公告)日: | 2019-12-24 |
| 发明(设计)人: | 刘方梅 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/77 | 分类号: | H01L21/77;H01L27/12;H01L27/32 |
| 代理公司: | 44265 深圳市德力知识产权代理事务所 | 代理人: | 林才桂 |
| 地址: | 518132 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | oled 背板 制作方法 | ||
1.一种OLED背板的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:
步骤S1、提供一衬底基板(1),在所述衬底基板(1)上形成缓冲层(3);
步骤S2、在所述缓冲层(3)上沉积第一氧化物半导体层(41),在沉积的同时通入氩气和氧气,所述氩气和氧气的流量比为第一比值;
步骤S3、在所述第一氧化物半导体层(41)上沉积第二氧化物半导体层(42),在沉积的同时通入氩气和氧气,所述氩气和氧气的流量比为第二比值;
步骤S4、在所述第二氧化物半导体层(42)上沉积第三氧化物半导体层(43),在沉积的同时通入氩气和氧气,所述氩气和氧气的流量比为第三比值,得到包括所述第一氧化物半导体层(41)、第二氧化物半导体层(42)、及第三氧化物半导体层(43)的有源层(4);
步骤S5、在所述有源层(4)上形成栅极绝缘层(5)和位于所述栅极绝缘层上的栅极(6);
步骤S6、在所述有源层(4)、栅极(6)、及栅极绝缘层(5)上覆盖层间绝缘层(7);
步骤S7、在所述层间绝缘层上形成源极(81)和漏极(82);
所述第一比值和第三比值均大于所述第二比值;
所述第一比值和第三比值均为1:4至1:2,所述第二比值为1:20至1:10。
2.如权利要求1所述的OLED背板的制作方法,其特征在于,所述第一氧化物半导体层(41)及第三氧化物半导体层(43)的厚度为50至所述第二氧化物半导体层(42)的厚度为200至
3.如权利要求1所述的OLED背板的制作方法,其特征在于,所述第一氧化物半导体层(41)、第二氧化物半导体层(42)、及第三氧化物半导体层(43)的材料均为IGZO,所述缓冲层(3)和栅极绝缘层(5)的材料均为氧化硅和氮化硅中的一种或二者的组合。
4.如权利要求1所述的OLED背板的制作方法,其特征在于,所述步骤S1还包括:在所述衬底基板(1)和缓冲层(3)之间形成遮光层(2),所述遮光层(2)遮挡所述有源层(4)。
5.如权利要求1所述的OLED背板的制作方法,其特征在于,所述步骤S5具体包括:
在所述有源层(4)和缓冲层(3)上沉积栅极绝缘薄膜,在所述栅极绝缘薄膜上沉积栅极金属薄膜;
通过一道光罩制程图案化所述栅极金属薄膜,形成栅极(6);
以所述栅极为遮挡蚀刻所述栅极绝缘薄膜,形成栅极绝缘层(5)。
6.如权利要求1所述的OLED背板的制作方法,其特征在于,所述步骤S5中所述栅极(6)和栅极绝缘层(5)覆盖所述有源层(4)的中央,并暴露所述有源层(4)的两端;
在所述步骤S5和步骤S6之间还包括如下步骤:对所述有源层(4)进行等离子处理,使得所述有源层(4)的两端的电阻降低,形成N+导体层。
7.如权利要求1所述的OLED背板的制作方法,其特征在于,所述步骤S6还包括:对所述层间绝缘层(7)进行图案化,形成分别暴露出所述有源层(4)的两端的第一过孔(71)和第二过孔(72),所述步骤S7中源极(81)和漏极(82)分别通过第一过孔(71)和第二过孔(72)与所述有源层(4)的两端接触。
8.如权利要求1所述的OLED背板的制作方法,其特征在于,还包括:
步骤S8、在所述层间绝缘层(7)、源极(81)、和漏极(82)上沉积钝化层(9),并对所述钝化层(9)进行图案化,形成暴露出所述漏极(82)的第三过孔(91);
步骤S9、在所述钝化层(9)上形成第一电极(10),所述第一电极(10)通过所述第三过孔(91)与所述漏极(82)接触;
步骤S10、在所述第一电极(10)和钝化层(9)上形成像素定义层(11),并对所述像素定义层(11)进行图案化,形成暴露出所述第一电极(10)的像素定义槽(111);
步骤S11、在所述像素定义槽(111)内形成有机发光层(12),在所述像素定义层(11)和有机发光层(12)上形成第二电极(13)。
9.如权利要求8所述的OLED背板的制作方法,其特征在于,所述第一电极(10)为透明电极,所述第二电极(13)为反射电极。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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