[发明专利]过程设备状况和性能监控在审

专利信息
申请号: 201711003250.0 申请日: 2017-10-24
公开(公告)号: CN107976969A 公开(公告)日: 2018-05-01
发明(设计)人: M·J·尼克松;J·B·基德;M·J·布德罗;S·W·安德森;E·罗特沃尔德 申请(专利权)人: 费希尔-罗斯蒙特系统公司
主分类号: G05B19/418 分类号: G05B19/418
代理公司: 永新专利商标代理有限公司72002 代理人: 曹雯
地址: 美国德*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 过程 设备 状况 性能 监控
【权利要求书】:

1.一种用于通过使用数据来检测过程工厂实体的状况的方法,所述数据从过程工厂安全地传输到云计算系统,所述方法包括:

在所述过程工厂进行操作以控制工业过程时,在所述云计算系统处接收由所述过程工厂的一个或多个设备生成的数据,所述数据被保护以便经由数据二极管从所述一个或多个设备传送到所述云计算系统,并且所述数据二极管被配置为防止在所述过程工厂的网络与所述云计算系统的网络之间的双向通信;

在所述云计算系统处分析所述数据,从而检测过程工厂实体的状况,所述过程工厂实体执行物理功能以控制所述过程工厂中的所述工业过程,所述过程工厂实体与所述一个或多个设备相对应;以及

将对所述过程工厂实体的状况的指示传送到用户接口设备,以向操作者警告所述状况。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,接收由所述一个或多个设备生成的所述数据包括:在多个时间实例处接收针对所述过程工厂实体的一个或多个过程参数中的每个过程参数的相应的过程参数值。

3.根据权利要求2所述的方法,其中,分析所述数据,从而检测所述过程工厂实体的状况包括:

对于所述一个或多个过程参数中的每个过程参数,将在所述多个时间实例上的所述一个或多个过程参数的相应的过程参数值进行组合,以生成过程参数度量;以及

基于所述过程参数度量检测所述过程工厂实体的状况。

4.根据权利要求3所述的方法,其中,将在所述多个时间实例上的所述一个或多个过程参数的相应的过程参数值进行组合以生成所述过程参数度量包括计算以下项中的至少一个,以生成所述过程参数度量:在所述多个时间实例上的所述相应的过程参数值的移动平均值或所述相应的过程参数值的衰减平均值。

5.根据权利要求3所述的方法,

还包括基于所述一个或多个过程参数的历史过程参数值来生成统计模型;以及

其中,基于所述过程参数度量来检测所述过程工厂实体的状况包括:将所述过程参数度量应用到所述统计模型。

6.根据权利要求5所述的方法,其中,基于所述一个或多个过程参数的所述历史过程参数值来生成所述统计模型包括:

将每个历史过程参数值分类为对应于针对已经经历了所述状况的一个或多个过程工厂实体的过程参数值的第一集合;或分类为对应于针对未经历所述状况的一个或多个过程工厂实体的过程参数值的第二集合;以及

基于对所述历史过程参数值的分类来生成所述统计模型。

7.根据权利要求5所述的方法,还包括:

接收对所述过程工厂实体是否已经经历了所述状况的指示;以及

基于对所述过程工厂实体是否已经经历了所述状况的指示,更新所述历史过程参数值以包括所述过程工厂实体的所述一个或多个过程参数的相应的过程参数值。

8.根据权利要求1所述的方法,其中,检测所述过程工厂实体的状况,包括以下步骤中的至少一个:检测所述过程工厂实体的性能监控度量;或检测在所述过程工厂实体处的错误、死区、死区时间、或泄露中的至少一个。

9.根据权利要求1所述的方法,还包括:

基于检测到的所述过程工厂实体的状况,引起将在所述过程工厂处生成警报或事件。

10.根据权利要求1所述的方法,还包括:

向所述过程工厂传送控制信号,以基于检测到所述过程工厂实体的状况来调整对所述过程工厂实体的操作。

11.根据权利要求1所述的方法,其中,接收由所述一个或多个设备生成的数据包括:经由所述数据二极管接收从所述一个或多个设备流动到所述云计算系统的实时数据。

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