[发明专利]一种用于建筑工程质量检测器的零值误差校准装置在审

专利信息
申请号: 201710997116.0 申请日: 2017-10-20
公开(公告)号: CN107643034A 公开(公告)日: 2018-01-30
发明(设计)人: 虞伟明 申请(专利权)人: 虞伟明
主分类号: G01B5/00 分类号: G01B5/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 510000 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 建筑 工程质量 检测器 误差 校准 装置
【说明书】:

技术领域

发明是一种用于建筑工程质量检测器的零值误差校准装置,属于建筑质量检测器领域。

背景技术

建筑工程,指通过对各类房屋建筑及其附属设施的建造和与其配套的线路、管道、设备的安装活动所形成的工程实体。

现有技术公开了申请号为:201420366692.7的一种校准装置,用于校准被检平尺的平行度,所述校准装置包括:底座,底座放置在用于放置平尺的平板工作面上;升降装置,升降装置垂直设置在底座上;支架,支架的一端与升降装置连接,可沿升降装置上下移动;数显千分表,数显千分表固定设置在支架的另一端,数显千分表的测头在校准装置工作时与平尺的工作面接触。本发明采用了数显千分表使得测量精度高、读数方便,而且本发明结构简单、便于携带、操作方便、稳定性好,并能缩短检测时间,提高劳动效率。但是其不足之处在于对质量检测器对建筑工程质量检测校准时,无法使校准装置对质量检测器校准零值误差,易使质量检测器对建筑工程质量造成偏差,影响校准效果。

发明内容

针对现有技术存在的不足,本发明目的是提供一种用于建筑工程质量检测器的零值误差校准装置,以解决上述设备对质量检测器对建筑工程质量检测校准时,无法使校准装置对质量检测器校准零值误差,易使质量检测器对建筑工程质量造成偏差,影响校准效果的问题。

为了实现上述目的,本发明是通过如下的技术方案来实现:一种用于建筑工程质量检测器的零值误差校准装置,其结构包括底座、微调器、安装盘、转盘、滑块、支撑架、校准器主体、导轨,所述底座为两侧表面相等且底部内凹的N型,顶部表面与滑块底部表面采用过盈配合方式活动连接且构成凸型,底座两侧高度为15cm,所述支撑架为顶部两侧表面相等且底部延伸的T型,底部表面设在滑块顶部表面中央且构成工型,支撑架顶部厚度为80mm-90mm,所述底座顶部表面与滑块底部表面采用过盈配合方式活动连接,底座长度为1.5m,所述导轨为内外硬实且两侧表面相等的长方体结构,底部表面设在底座顶部表面中央且相互垂直,导轨高度为40mm-60mm,所述滑块顶部表面中央设有支撑架底部表面末端且相互垂直,支撑架高度为8cm,所述转盘为两侧表面相等且相互平行的圆柱体结构,底部表面和侧方表面设在导轨侧方表面末端和底座顶部表面边沿,转盘高度为4cm,所述校准器主体为两侧表面相等且相互平行的圆柱体结构,顶部表面与支撑架顶部内侧表面采用过盈配合方式活动连接且相互垂直,校准器主体直径为4cm,所述微调器侧方表面末端设在安装盘侧方表面中央且相互垂直;所述微调器由对接杆、转动器、外壳、旋钮、微调器主体、控制器组成,所述对接杆为两侧表面相等且相互平行的圆柱体结构,安装盘侧方表面中央设有对接杆侧方表面末端,对接杆长度为2cm-3cm,所述转动器为两侧表面相等且相互平行的圆柱体结构,侧方表面中央与对接杆侧方表面采用过盈且构成凸型,转动器直径为4cm,所述外壳侧方表面设在转动器侧方表面且构成H型,外壳长度为15cm-16cm,所述旋钮为外壁硬实且侧方内凹的圆柱体结构,外壳侧方表面末端设有旋钮侧方表面且构成T型,旋钮长度为5cm,所述微调器主体为两侧表面相等且相互平行的圆柱体结构,外侧表面与外壳内侧表面中央采用过盈配合方式活动连接,微调器主体长度为7cm-8cm,所述控制器外侧表面设在微调器主体侧方表面且相互垂直,控制器长度为7.5cm。

进一步地,所述安装盘为两侧表面相等且相互平行的圆柱体结构,底座侧方表面设有安装盘侧方表面且相互垂直,安装盘直径为6cm-7cm。

进一步地,所述滑块为两侧表面相等且底部中央内凹的凹型,内凹表面与导轨外侧表面采用过盈配合方式活动连接且构成凸型,滑块长度为5cm-6cm。

进一步地,所述安装盘侧方表面上方设有锁扣。

进一步地,所述滑块高度为100mm-120mm。

进一步地,所述导轨长度比底座长度缩小为8cm-9cm。

进一步地,所述底座由金属制成。

进一步地,所述滑块与导轨配套使用。

有益效果

本发明一种用于建筑工程质量检测器的零值误差校准装置,设有微调器,滑块在导轨带动校准器主体校准造成细小误差时,转动旋钮经控制器带动微调器主体转动,微调器主体通过转动器经对接杆控制滑块在导轨进行误差微调,按下锁扣防止对接杆转动带动滑块移位,避免在校准时造成校准误差,有效提高校准效果。

附图说明

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