[发明专利]一种基于二维平面异质结增强型场效应管的制备方法在审
申请号: | 201710985285.2 | 申请日: | 2017-10-20 |
公开(公告)号: | CN107818921A | 公开(公告)日: | 2018-03-20 |
发明(设计)人: | 张永哲;陈永锋;严辉;刘北云;邓文杰;游聪娅;李景峰;杨炎翰;申高亮;王光耀;庞玮;安博星 | 申请(专利权)人: | 北京工业大学 |
主分类号: | H01L21/336 | 分类号: | H01L21/336;H01L21/34;H01L29/06;H01L29/16;H01L29/24 |
代理公司: | 北京思海天达知识产权代理有限公司11203 | 代理人: | 张立改 |
地址: | 100124 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 二维 平面 异质结 增强 场效应 制备 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种微电子器件应用领域,特别是一种可用于数字逻辑电路的高开关比、低功耗的增强型场效应管的制备方法。
技术背景
2004年石墨烯的成功制备,证明了二维材料可以在自然界中稳定存在,也开启了二维纳米材料的研究热潮。对于二维材料,单层石墨烯具有单原子层的厚度,电子被限制在二维尺度范围内,使其电子特性增强。因此,单层石墨烯在室温状态下就具有高的载流子迁移率,达到2.5×105cn2V-1s-1。虽然单层石墨烯具有独特的电学性能和优异的稳定性,在未来微电子领域有优越地应用潜力,但是石墨烯材料在费米能级附近,能带具有线性色散关系而发生克莱因隧穿,导致材料制备的器件具有很低的开关比。尽管通过掺杂等方式可以使石墨烯具有一定大小的带隙,但是由于杂质散射或者缺陷作用对载流子迁移率影响很大;同时作为逻辑器件沟道材料使用过程中不能够很好的控制器件的关断,会出现漏电等情况。而通过这种平面异质结来制备场效应晶体管,不仅可以很好地控制器件的开关状态,而且还具有很高的开关比,使该异质结构材料制备的器件具有低功耗;同时,该器件在光电探测方面也具有低暗电流等特性。因此,这种平面异质结构制备的器件在未来的逻辑电路及光电探测器方面可以被广泛地应用。
发明内容
本发明提供一种基于二维平面异质结增强型场效应管的制备方法。该二维平面异质结实现不同二维材料之间线接触,改变传统范德华力面接触,可获得开关比高达106、低暗电流及低功耗等特性的增强型场效应管。并且基于刻蚀的石墨烯材料边界处有较多的悬挂键及缺陷,为其它二维材料的生长提供形核位点,可实现不同材料的二维平面异质结增强型场效应管批量化制备。
本发明的技术方案:一种基于二维平面异质结增强型场效应管的制备方法,其特征在于,按下述步骤进行:
①采用湿法转移,将CVD法制备生长于铜箔上的石墨烯膜转移至带有氧化层的单晶硅片衬底;
②在转移后的石墨烯膜上进行均匀旋涂光刻胶,再将掩膜版上的图案通过曝光转移至光刻胶上;
③采用等离子体刻蚀机刻蚀掉非图案部分,将石墨烯膜刻蚀成一定形状和间距的石墨烯条或块,石墨烯条或块的长、宽值在2~60μm之间,石墨烯条或块之间的距离为5~30μm,然后进行去光刻胶处理;
④将这种带有石墨烯条或块的衬底作为生长的基底,以CVD法在相邻的两石墨烯条或块之间进行生长MX2类(MoS2、WS2等过渡族硫化物)单层或者少层材料,与石墨烯条或块之间形成石墨烯-MX2-石墨烯面内异质结层;
⑤在石墨烯-MX2-石墨烯面内异质结层上均匀旋涂光刻胶,再将掩膜版上的图案通过曝光转移至光刻胶上,并采用电子束蒸镀在石墨烯-MX2-石墨烯面内异质结层两边的石墨烯上沉积Ti/Au金属得到Ti/Au电极,制得二维平面异质结增强型场效应管。
其中,优选地,步骤①中的湿法移过程中腐蚀铜箔采用腐蚀液为过硫酸铵((NH4)2S2O8)溶液,溶液浓度为0.3mol/L~0.8mol/L。
其中,优选地,步骤①中衬底采用的是带二氧化硅氧化层的硅片,氧化层的厚度在290~300nm,衬底为厚度400μm的P型高掺杂硅片。
其中,优选地,所述步骤②中对转移后的石墨烯膜进行旋涂光刻胶,匀胶机低速挡转速选择350~450r/min,高速挡转速30000~3500r/min。
其中,优选地,所述步骤③中采用等离子体刻蚀机刻蚀,刻蚀采用的气体为O2,气流量的大小为30~50sccm,刻蚀时间为7~10min。
其中,优选地,所述步骤③刻蚀的石墨烯为条或块状,石墨烯条或块的长、宽数值在10~50μm之间,条块之间的距离为5~20μm。
其中,优选地,所述步骤④中以CVD法生长MX2类二维材料,选用常压条件下可生长的MoS2、WS2等材料。
前述的基于二维平面异质结增强型场效应管的制备方法中,其中,优选地,所述石墨烯-MX2-石墨烯异面内质结中的石墨烯原材料为转移CVD法生长于铜箔表面的膜状石墨烯。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京工业大学,未经北京工业大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710985285.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造