[发明专利]一种微型偏振光谱成像探测系统及方法在审

专利信息
申请号: 201710979343.0 申请日: 2017-10-19
公开(公告)号: CN107741274A 公开(公告)日: 2018-02-27
发明(设计)人: 胡炳樑;李洪波;于涛;张周锋;张兆会;刘宏;卫翠玉 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28;G01J3/447;G01J3/02
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司61211 代理人: 汪海艳
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 微型 偏振 光谱 成像 探测 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种微型偏振光谱成像探测系统,包括前置光学系统(1)与大面阵探测器组件(4),其特征在于:还包括像素化偏振膜片(2)与线性渐变滤光片(3),分别用于实现光束的偏振信息获取和窄带滤光;

所述线性渐变滤光片(3)集成在大面阵探测器组件(4)感光面前方,所述像素化偏振膜片(2)集成在线性渐变滤光片(3)上;

或所述像素化偏振膜片(2)集成在大面阵探测器组件(4)感光面前方,线性渐变滤光片(3)集成在像素化偏振膜片(2)上;

目标反射光经过前置光学系统(1),再通过像素化偏振膜片(2)与线性渐变滤光片(3)后,在大面阵探测器组件(4)上形成目标像。

2.根据权利要求1所述的一种微型偏振光谱成像探测系统,其特征在于:所述像素化偏振膜片(2)包括多个偏振单元,每个偏振单元包括四种不同偏振态的偏振片,每个偏振单元的尺寸对应探测器N*N个像素尺寸,其中N为大于等于2的正整数。

3.根据权利要求2所述的一种微型偏振光谱成像探测系统,其特征在于:所述四种不同偏振态能够组合为:0度、45度、90度、135度或0度、45度、90度、非偏。

4.根据权利要求2或3所述的一种微型偏振光谱成像探测系统,其特征在于:所述线性渐变滤光片(3)通道的物理宽度覆盖一个或多个偏振单元;所述线性渐变滤光片(3)的光谱渐变方向与探测器推扫方向平行。

5.根据权利要求1至3任一所述的一种微型偏振光谱成像探测系统,其特征在于:所述前置光学系统(1)包括望远物镜组和成像镜组。

6.一种基于权利要求1至5任一所述的一种微型偏振光谱成像探测系统偏振光谱成像方法,其特征在于,包括以下步骤:

1)、对目标场景进行推扫成像,获得图像信息;

2)、获取偏振态信息:

2.1)、提取目标场景图像信息中的目标点单一波段、单一线偏振方向的灰度值信息,对于目标点的其它线偏振方向灰度值信息,通过对相邻目标点的线偏振方向灰度值信息进行插值算法获得;

2.2)、根据上述线偏振方向灰度值信息计算偏振度、偏振角各偏振参数;

3)、提取光谱信息;

设目标点A在推扫过程中依次成像于探测器像素A1~H1,其中A1代表探测器第A行第1列的像素单元,H1代表探测器第H行第1列的像素单元,取第一帧图像中像素A1的灰度信息,取第二帧图像中像素B1的灰度信息,依次类推,即可获得目标点A的光谱信息。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院西安光学精密机械研究所,未经中国科学院西安光学精密机械研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710979343.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top