[发明专利]一种运算放大器校准方法及电路在审
申请号: | 201710971607.8 | 申请日: | 2017-10-18 |
公开(公告)号: | CN107769737A | 公开(公告)日: | 2018-03-06 |
发明(设计)人: | 黄硕;荀本鹏;由德强;文学 | 申请(专利权)人: | 上海芯北电子科技有限公司 |
主分类号: | H03F1/34 | 分类号: | H03F1/34;H03F3/45 |
代理公司: | 上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙)31251 | 代理人: | 郭桂峰 |
地址: | 201203 上海市浦东新区中国(上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 运算放大器 校准 方法 电路 | ||
1.一种运算放大器校准方法,其特征在于,包括:
步骤S100运算放大器获取输入第一信号和第二信号,并进行放大处理得到对应的输出第三信号和第四信号;
步骤S200滤波电路将所述运算放大器输出的所述第三信号和所述第四信号进行滤波处理,并输入至比较器;
步骤S300所述比较器根据接收的滤波处理后的所述第三信号和所述第四信号生成反馈调整信号,并反馈至所述运算放大器;
步骤S400所述运算放大器根据接收的所述反馈调整信号与所述运算放大器中的预设信号进行均衡处理,控制所述运算放大器输出的所述第三信号和所述第四信号。
2.根据权利要求1所述的运算放大器校准方法,其特征在于,步骤S300包括:
步骤S310所述比较器将接收的滤波处理后的所述第三信号和所述第四信号进行比较;
步骤S320当所述第三信号大于所述第四信号时,比较器输出第一电平信号;
步骤S330当所述第三信号小于等于所述第四信号时,比较器输出第二电平信号;
步骤S340所述比较器根据所述第一电平信号和所述第二电平信号生成所述反馈调整信号,并反馈至所述运算放大器。
3.根据权利要求1所述的运算放大器校准方法,其特征在于,步骤S400包括:
步骤S410所述运算放大器接收的所述反馈调整信号反馈至所述运算放大器中的第一差分对晶体管M2的衬底;
步骤S420所述运算放大器中的预设信号连接至所述运算放大器中的第一差分对晶体管M1的衬底;
步骤S430所述运算放大器将所述第一差分对晶体管M1和M2的衬底进行均衡处理,控制所述运算放大器输出的所述第三信号和所述第四信号。
4.一种应用于权利要求1-3任一所述的运算放大器校准方法的运算放大器校准电路,其特征在于,包括:
运算放大器、比较器、滤波电路;
所述运算放大器用于获取输入端第一信号和第二信号,并进行放大处理得到对应的输出端第三信号和第四信号;
所述滤波电路用于将所述运算放大器输出端输出的第三信号和第四信号进行滤波处理,并输入至所述比较器;
所述比较器用于根据接收的滤波处理后的所述第三信号和所述第四信号生成反馈调整信号,并反馈至所述运算放大器;
所述运算放大器还用于根据接收的所述反馈调整信号与所述运算放大器中的预设信号进行均衡处理,控制所述运算放大器输出端输出的所述第三信号和所述第四信号。
5.根据权利要求4所述的运算放大器校准电路,其特征在于,包括:
所述比较器还用于将接收的滤波处理后的所述第三信号和所述第四信号进行比较;
所述比较器还用于当所述第三信号大于所述第四信号时,输出第一电平信号;
所述比较器还用于当所述第三信号小于等于所述第四信号时,输出第二电平信号;
所述比较器还用于根据所述第一电平信号和所述第二电平信号生成所述反馈调整信号,并反馈至所述运算放大器。
6.根据权利要求4或5任一所述的运算放大器校准电路,其特征在于,所述运算放大器包括:
第一差分对晶体管M1和M2、动态负载;
所述运算放大器输入端第一信号与所述第一差分对晶体管M2的栅极电连接;
所述第一差分对晶体管M2的漏极与所述动态负载电连接;
滤波处理后的所述反馈调整信号与所述第一差分对晶体管M2的衬底端电连接;
所述运算放大器输入端第二信号与所述第一差分对晶体管M1的栅极电连接;
所述第一差分对晶体管M1的漏极与所述动态负载电连接;
所述运算放大器中的预设信号与所述第一差分对晶体管M1的衬底端电连接;
所述动态负载分别与所述运算放大器输出端第三信号和第四信号电连接。
7.根据权利要求6所述的运算放大器校准电路,其特征在于,所述动态负载包括:
第二差分对晶体管M3和M4;
所述第二差分对晶体管M4的漏极与所述第一差分对晶体管M2的漏极共同与所述运算放大器输出端第三信号电连接;
所述第二差分对晶体管M3的漏极与所述第一差分对晶体管M1的漏极共同与所述运算放大器输出端第四信号电连接。
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