[发明专利]半导体工艺设备、涂覆设备及其排出装置有效
| 申请号: | 201710964140.4 | 申请日: | 2017-10-17 |
| 公开(公告)号: | CN109671641B | 公开(公告)日: | 2022-11-11 |
| 发明(设计)人: | 林津民;王国华;李志洋;陈冠纶 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
| 代理公司: | 南京正联知识产权代理有限公司 32243 | 代理人: | 顾伯兴 |
| 地址: | 中国台湾新竹科*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 半导体 工艺设备 设备 及其 排出 装置 | ||
1.一种半导体工艺设备,其特征在于,包括:
材料供应源;
加工腔室;
载台,位在所述加工腔室内,用以承载待加工物;
喷嘴,位在所述加工腔室内并且设置在所述待加工物的上方,所述喷嘴连接所述材料供应源,用以提供材料到所述待加工物上;
排出泵,位在所述加工腔室外;以及
排出装置,设置在所述载台下方,所述排出装置包括:
排出管,连接所述加工腔室底部并且延伸至所述加工腔室外;
弯管,位在所述加工腔室外,并且连接在所述排出管与所述排出泵之间,其中所述弯管的侧壁上具有清洁开口,用以暴露所述弯管内部;以及
盖板,可拆卸地设置在所述清洁开口。
2.根据权利要求1所述的半导体工艺设备,其中所述载台为旋转载台,用以带动所述待加工物旋转。
3.根据权利要求1所述的半导体工艺设备,还包括杯体,位在所述加工腔室内,并且环绕所述载台,所述排出管连接所述杯体底部。
4.根据权利要求1所述的半导体工艺设备,其中所述弯管具有弯折部,且所述清洁开口位在所述弯折部的所述侧壁上。
5.一种涂覆设备,其特征在于,包括:
加工腔室;
旋转载台,位在所述加工腔室内,用以承载并带动待加工物旋转;
喷嘴,位在所述加工腔室内并且设置在所述待加工物的上方,所述喷嘴连接材料供应源,用以提供材料到所述待加工物上;以及
排出装置,设置在所述载台下方,所述排出装置包括:
排出管,连接所述加工腔室底部并且延伸至所述加工腔室外;
弯管,位在所述加工腔室外,并且连接在所述排出管与外部的排出泵之间,其中所述弯管的侧壁上具有清洁开口,用以暴露所述弯管内部;以及
盖板,可拆卸地设置在所述清洁开口。
6.根据权利要求5所述的涂覆设备,还包括一杯体,位在所述加工腔室内,并且环绕所述载台,所述排出管连接所述杯体底部。
7.根据权利要求5所述的涂覆设备,其中所述弯管具有弯折部,且所述清洁开口位在所述弯折部的所述侧壁上。
8.一种排出装置,配置于半导体工艺设备的加工腔室下方,其特征在于,所述排出装置包括:
排出管,连接所述加工腔室底部并且延伸至所述加工腔室外;
弯管,位在所述加工腔室外,并且连接在所述排出管与排出泵之间,其中所述弯管的侧壁上具有清洁开口,用以暴露所述弯管内部;以及
盖板,可拆卸地设置在所述清洁开口。
9.根据权利要求8所述的排出装置,其中所述弯管具有弯折部,且所述清洁开口位在所述弯折部的所述侧壁上。
10.根据权利要求8所述的排出装置,其中所述盖板以螺锁的方式固定在所述清洁开口处。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





