[发明专利]传感器以及传感器的阈值设定方法有效
| 申请号： | 201710961963.1 | 申请日： | 2017-10-17 |
| 公开（公告）号： | CN108345042B | 公开（公告）日： | 2019-12-31 |
| 发明（设计）人： | 谷末光平 | 申请（专利权）人： | 欧姆龙株式会社 |
| 主分类号： | G01V8/10 | 分类号： | G01V8/10;G05B19/05 |
| 代理公司： | 11127 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 李辉;邓毅 |
| 地址： | 日本国京*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 受光量 传感器 阈值设定 变化量 光电传感器 物体检测 检测信号 最小限度 受光部 投光部 采样 抖动 检测 | ||
1.一种传感器，其通过由受光部接收来自投光部的光而检测物体，该传感器具有：
采样部，其对由所述受光部接收的受光量进行采样；
计算部，其根据由所述采样部采样的受光量，计算每单位时间的受光量变化量；
设定部，其在所述每单位时间的受光量变化量满足规定条件时，将与该每单位时间的受光量变化量对应的受光量设定为阈值；以及
检测部，其通过由所述受光部接收的受光量与所述阈值的比较来检测所述物体。
2.根据权利要求1所述的传感器，其中，
所述采样部以恒定周期对由所述受光部接收的受光量进行采样。
3.根据权利要求1或2所述的传感器，其中，
所述计算部计算所述每单位时间的受光量变化量的进一步的每单位时间的变化量，
当所述进一步的每单位时间的变化量大于规定值时，所述设定部将与该进一步的每单位时间的变化量对应的受光量不设为所述阈值的设定对象。
4.根据权利要求1或2所述的传感器，其中，
当多个所述每单位时间的受光量变化量满足所述规定条件时，所述设定部根据对与该多个所述每单位时间的受光量变化量对应的受光量中的各个受光量进行加权而得到的结果，设定所述阈值。
5.根据权利要求1或2所述的传感器，其中，
所述设定部在由所述检测部使用所述阈值检测所述物体的期间，将该阈值更新为根据由所述采样部采样的受光量而新设定的阈值。
6.一种传感器的阈值设定方法，该传感器通过由受光部接收来自投光部的光并且通过由该受光部接收的受光量与阈值的比较来检测物体，该阈值设定方法包括如下步骤，
对由所述受光部接收的受光量进行采样；
根据所采样的受光量，计算每单位时间的受光量变化量；以及
当所述每单位时间的受光量变化量满足规定条件时，将与该每单位时间的受光量变化量对应的受光量设定为阈值。
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