[发明专利]一种仪表盘的检测方法

权利要求书

1.一种仪表盘的检测方法，其特征在于，所述方法包括：

获得一待检测的仪表盘，所述仪表盘包括一上壳体和一下壳体，且所述上壳体上嵌有一液晶屏；

将所述仪表盘放置到暗箱中，其中，所述暗箱中包括第一摄像头；

通过所述第一摄像头获得所述液晶屏显示的一轮廓线，并获得第一图像；

比较所述第一图像与第一标准图像的第一相似度；

当所述第一相似度满足预定条件时，判断所述上壳体和所述下壳体的安装满足精度要求；

所述暗箱中还包括第二摄像头，其中，所述方法还包括：

通过所述第二摄像头获得所述上壳体和所述下壳体之间的结合部的第二图像；

比较所述第二图像和第二标准图像的第二相似度；

当所述第二相似度满足预定条件时，判断所述上壳体和所述下壳体的安装满足精度要求；

根据所述第一相似度和所述第二相似度获得第三相似度；

根据所述第三相似度判断所述上壳体和所述下壳体的安装满足精度要求；

其中，所述根据所述第三相似度判断所述上壳体和所述下壳体的安装满足精度要求，具体为：当所述第三相似度等于1或接近1时，判断所述上壳体和所述下壳体的安装满足精度要求。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

当所述第一相似度不满足预定条件时，判断所述上壳体和所述下壳体的安装不满足精度要求。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

所述第一摄像头和所述第二摄像头处于不同的位置。