[发明专利]一种检测多场作用下电路板的实验装置及实验方法

说明书

本发明提供了一种检测多场作用下电路板质量的实验装置，包括测试箱，还包括与所述测试箱箱体侧壁连接向所述测试箱内发射电磁波的射频系统、可调节和控制所述测试箱内部温度的温度控制系统、放置待测电路板的支架、测量待测电路板附近电磁波强度的功率探头以及电路板供电与输出显示系统。本发明同时提供了一种检测多场作用下电路板质量的实验方法，采用如上的实验装置。本发明提供的一种检测多场作用下测评电路板质量的实验装置和实验方法，可在不同温度、射频干扰情况下，对电路板的质量检测。

技术领域

本发明涉及一种电路板的测试装置，尤其是一种可以在多场作用下检测电路板质量的实验装置以及相应的实验方法

背景技术

目前针对电子器件的电磁干扰的检测主要是通过权威的实验中心完成测试，建设成本比较昂贵，同时对于局部控制器件等小型被测样品而言程序显得过于复杂，同时需要考虑到电气件实际工作的环境温度。前没有能够有效测评接近实际工况下响应产品质量的平台，所以急需一种能准确、快捷的测试模拟在电磁干扰与环境温度的多场作用下电路板工作性能的实验装置和实验方法。

发明内容

本发明主要目的在于解决上述问题和不足，提供了一种多场作用下测评电路板质量的实验装置及实验方法，可在不同温度、射频干扰情况下，分别对电路板的质量检测。

为实现上述目的，本发明首先提供了一种检测多场作用下电路板质量的实验装置，其技术方案是：

一种检测多场作用下电路板质量的实验装置，包括测试箱，还包括与所述测试箱箱体侧壁连接向所述测试箱内发射电磁波的射频系统、可调节和控制所述测试箱内部温度的温度控制系统、放置待测电路板的支架、测量待测电路板附近电磁波强度的功率探头以及电路板供电与输出显示系统。

进一步的，所述射频系统包括通过传输线相互连接的射频信号源、功率控制系统及复合天线，所述功率控制系统接收射频信号源发射的电磁波，放大处理到相应的功率后经复合天线向所述测试箱体内发射电磁波。

进一步的，所述功率控制系统包括功率放大器及功率控制回路，所述功率放大器分别与所述射频信号源、复合天线及功率控制回路连接，所述功率控制回路与所述功率探头连接。

进一步的，所述电路板供电与输出显示系统包括与所述电路板连接提供电压的信号输入系统、与所述电路板连接检测所述电路板输出信号并监测所述电路板状态的信号输出显示系统。

进一步的，所述测试箱为内层是吸波材料的双层屏蔽箱。

本发明进一步提供了一种检测多场作用下电路板质量的实验方法，采用如下技术方案：

一种检测多场作用下电路板质量的实验方法，使用如前文所述的实验装置，测试过程包括如下步骤，

S1，温度控制系统对测试箱进行加热；

S2，射频系统向测试箱内发射电磁波，使测试箱体内产生电磁干扰；

S3，设置射频信号的输出功率及温度，通过温度控制系统和射频系统的调节和控制功能，使测试箱内处于预设的工作环境下；

S4，设置信号输入系统给待测电路板施正常工作电压；

S5，预先设定信号输出显示系统的阈值Df；

S6，观察信号输出显示系统并记录数据yi，

S7，当检测到的数据yi达到或者超过预先设定的阈值Df时，认为此时该电路板已经失效。

进一步的，步骤S6中，每隔时间t记录一个数据yi，记录一个周期时间T，并计算每个时间点n的可靠度R(n)。

进一步的，通过如下公式计算可靠度R(n)