[发明专利]光源装置及具备该光源装置的光电式编码器

说明书

技术领域

本发明涉及照射光的光源装置及具备该光源装置的光电式编码器。

背景技术

目前，已知有一种光电式编码器，其具备具有刻度的刻度尺、具有光源装置及受光单元并且沿着刻度尺相对移动的探头，根据刻度尺和探头的相对移动量来检测位移量。例如，日本特开平10－132612号公报记载的光学式位移检测装置(光电式编码器)具备照射平行光的光照射单元(光源装置)、光照射单元的平行光进行照射的主刻度尺(刻度尺)、接收经由主刻度尺的光的受光单元。

图7是表示现有的光照射单元的剖视图。

如图7所示，该光学式位移检测装置所使用的光照射单元100由下述部件构成：LED(发光单元)101；透明树脂103，其在内部配置有LED101，在模具中加入树脂成型，并且具有与LED101的光轴L正交的平面(正交平面)102；透镜体(透光部件)105，其与该透明树脂103贴合，并且具有与平面102垂直的垂直面(光轴平面)104；反射膜(反射部件)106，其涂敷在透镜体105的表面(抛物面)；反射板107，其与垂直面104贴合；出射面108，其向光照射单元100的外部射出由反射膜106反射的平行光。

透镜体105形成将大致半球体再分成一半的形状，表面涂敷有反射膜106，起到凹面镜的作用。光照射单元100在垂直面104的延长面上配置LED101，利用朝向透镜体105的反射膜106照射的来自LED101的光得到虚线箭头所示的平行光。

光照射单元100的透镜体105形成将大致半球体再分成一半的形状，由此，与使用大致半球体的情况相比，可实现小型化。

此外，反射板107是为了利用来自LED101的周边部的光提高平行光的光度而设置的。

发明内容

然而，如图7所示，这种光照射单元100由于使透镜体105形成为将大致半球体再分成一半的形状，所以由平面102和垂直面104形成角部200。在此，将从出射面108向光照射单元100的外部射出的光中的并非是平行光(虚线箭头)的光称为杂散光(实线箭头)。如图7的实线箭头所示，杂散光因光照射到角部200而产生。这是因为角部200成为了光的散射点。因此，光照射单元100因形成角部200而从出射面108射出包括杂散光的平行光，存在无法确保充分的可靠性的问题。另外，如果杂散光照射到光学式位移检测装置的刻度尺，在位移量的检测时就会成为噪声的原因。因此，具备该光照射单元100的光学式位移检测装置具有无法充分确保检测精度的问题。

本发明的目的在于，提供一种能够减少杂散光而确保可靠性，并且能够实现高精度的光源装置及具备该光源装置的光电式编码器。

本发明的光源装置具备：照射光的发光单元、在内部收容所述发光单元并且使从所述发光单元照射的光变为平行光的透光部件，其特征在于，所述透光部件具备：光轴平面，其位于所述发光单元的光路上，与所述发光单元的光轴平行；正交平面，其与所述光轴平面的发光单元侧的端部连接形成，并且位于所述发光单元的光路上，与所述发光单元的光轴正交；反射部，其与所述光轴平面的与发光单元相反的一侧的端部连接而朝向所述正交平面的相反侧形成，并且使来自所述发光单元的光变为平行光；曲面状的连接部，其通过所述光轴平面和所述正交平面连接而形成，并且在所述透光部件的外侧的区域且在所述光轴平面和所述正交平面之间的区域具有中心轴。

根据这样的本发明，透光部件的连接部以曲面状形成，因此，不会产生像图7所示的角部200这样的光的散射点。具体而言，照射到连接部的光的一部分透过连接部的曲面向透光部件的外部射出，因此，能够减少杂散光。因此，光源装置能够减少杂散光而确保可靠性，并且实现高精度。另外，透光部件具有与光轴平面的另一端侧连接并朝向正交平面的相反侧形成的反射部，因此，能够确保需要的平行光，并且能够实现光源装置的小型化。进而，透光部件具备曲面状的连接部，因此，例如将透明树脂加入金属模具等使透光部件成型的情况，成型后能够容易地从金属模具等脱模。

此时，优选地，所述连接部具备吸收来自所述发光单元的光的防反射部件。

根据这种结构，透光部件的连接部因具备防反射部件而吸收来自发光单元的光。因此，因为照射到连接部的光被防反射部件吸收，所以能够抑制杂散光的产生。

此时，优选地，所述连接部由半径大于所述发光单元的发光面的最大长度的曲面形成。

根据这种结构，由于透光部件的连接部半径大于比发光单元的发光面的最大长度的圆弧形成，所以与由半径小于发光单元的发光面的最大长度的圆弧形成的情况相比，能够抑制杂散光的产生。