[发明专利]信息推送方法、装置和电子设备有效

专利信息
申请号: 201710945531.1 申请日: 2017-10-12
公开(公告)号: CN109656803B 公开(公告)日: 2022-04-12
发明(设计)人: 陈磊;贾瑞卿;牛锋华;郭琳琳 申请(专利权)人: 北京京东尚科信息技术有限公司;北京京东世纪贸易有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36;G06K9/62;H04L67/55
代理公司: 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 代理人: 王达佐;马晓亚
地址: 100080 北京市海淀区杏石口路6*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 信息 推送 方法 装置 电子设备
【权利要求书】:

1.一种信息推送方法,其特征在于,所述方法包括:

获取软件项目对应的、已发生的多个缺陷中各个缺陷的缺陷发生时间的信息和缺陷解决时间的信息;

基于所述多个缺陷中各个缺陷的缺陷发生时间和缺陷解决时间确定统计缺陷的统计参数;

基于所述统计参数分别与预设第一聚类中心和第二聚类中心之间的距离确定逾期信息,其中,所述第一聚类中心为表征不逾期的聚类中心,所述第二聚类中心为表征逾期的聚类中心,所述逾期信息用于指示所述软件项目开发是否逾期;以及

向用户推送所述逾期信息。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述统计参数包括:缺陷解决时长的标准方差、样本均值和90%分位数;

所述基于多个缺陷中各个缺陷的缺陷发生时间和缺陷解决时间确定统计缺陷的统计参数,包括:

根据各个缺陷的缺陷发生时间和缺陷解决时间确定各缺陷的缺陷解决时长;

统计缺陷解决时长的标准方差、均值和90%分位数。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述统计缺陷解决时长的标准方差、均值和90%分位数,包括根据如下公式统计缺陷解决时长的90%分位数per

其中, n为该项目对应的当前时间之前已发生的缺陷的总数量;为第c个缺陷的修复时间;为第c+1个缺陷的修复时间;int为取整运算符;所述修复时间表征修复时长。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述统计参数分别与预设第一聚类中心和第二聚类中心之间的距离确定所述逾期信息,包括:

若d1d2,则所述软件项目不逾期;

否则,所述软件项目逾期;其中

d1为所述统计参数与第一聚类中心之间的距离,d2为所述统计参数与第二聚类中心之间的距离。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述获取软件项目对应的、已发生的多个缺陷中各个缺陷的缺陷发生时间的信息和缺陷解决时间的信息之前,所述方法还包括:

基于多个历史软件项目的统计参数使用预设聚类算法生成所述第一聚类中心和第二聚类中心。

6.一种信息推送装置,其特征在于,所述装置包括:

获取单元,配置用于获取软件项目对应的、已发生的多个缺陷中各个缺陷的缺陷发生时间的信息和缺陷解决时间的信息;

统计参数确定单元,配置用于基于多个缺陷中各个缺陷的缺陷发生时间的信息和缺陷解决时间的信息确定统计缺陷的统计参数;

逾期信息确定单元,配置用于基于所述统计参数分别与预设第一聚类中心和第二聚类中心之间的距离确定所述逾期信息,其中,所述第一聚类中心为表征不逾期的聚类中心,所述第二聚类中心为表征逾期的聚类中心,所述逾期信息用于指示所述软件项目开发是否逾期;以及

推送单元,配置用于向用户推送所述逾期信息。

7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述统计参数包括:缺陷解决时长的标准方差、样本均值和90%分位数;

所述统计参数确定单元进一步配置用于:

根据各个缺陷的缺陷发生时间和缺陷解决时间确定各缺陷的缺陷解决时长;

统计多个缺陷解决时长的标准方差、均值和90%分位数。

8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述统计参数确定单元进一步配置用于:

根据如下公式确定统计缺陷的缺陷解决时长的90%分位数per

其中, n为该项目对应的当前时间之前已发生的缺陷的总数量;为第c个缺陷的修复时间;为第c+1个缺陷的修复时间;int为取整运算符;所述修复时间表征修复时长。

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