[发明专利]一种用于将光电探测器从插座中取下的装置有效
| 申请号: | 201710944321.0 | 申请日: | 2017-09-30 |
| 公开(公告)号: | CN107650063B | 公开(公告)日: | 2019-05-24 |
| 发明(设计)人: | 李翠华;丁东发;张宇;王金玉 | 申请(专利权)人: | 北京航天时代光电科技有限公司 |
| 主分类号: | B25B27/00 | 分类号: | B25B27/00 |
| 代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 张欢 |
| 地址: | 100094*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 用于 光电 探测器 插座 取下 装置 | ||
本发明提供一种用于将光电探测器从插座中取下的装置,将探测器从测试插座中取下,转动块同时控制两个卡头在探测器底面为施力,确保探测器受力均匀。活动手柄安装在转动块上,固定手柄安装工字架上,转动块置于工字架顶面,连杆第一端穿过工字架与转动块连接,十字架固定在连杆第二端;两个支撑杆位于工字架两侧缺口内,两个支撑杆与工字架连接;两个卡头位于支撑杆上,并于十字架固定,转动块沿自身曲面转动拉升连杆及十字架,卡头在十字架带动下沿支撑杆向上移动,将探测器从插座中取下。使用该装置后,探测器测试中不再徒手操作产品,很好的杜绝了产品管脚弯曲而损伤玻璃绝缘子的问题。
技术领域
本发明涉及一种用于将光电探测器从插座中取下的装置。
背景技术
光电探测器是一种有密封要求的带尾纤的双列直插有源器件,筛选测试过程中需要多次通电测试,通常将电源接入测试板,测试板上焊接测试插座,再将光电探测器插入测试插座中,因此光电探测器筛选测试中需要多次插拔操作。
目前光电探测器从插座中取下时,多为徒手操作或采用镊子将光电探测器从插座中撬下来,无法保证各管脚均匀受力,多次通电测试后光电探测器管脚玻璃绝缘子会出现裂纹,破坏其完整性,严重的会导致产品密封性能不满足要求。
发明内容
本发明要解决的技术问题是:针对现有技术的不足,提供一种用于将光电探测器从插座中取下的装置,借助该装置将光电探测器从插座中取下时,保证光电探测器各管脚受力均匀,经多次操作后光电探测器管脚玻璃绝缘子完整,确保光电探测器密封性能满足航天产品要求。
本发明采用的技术解决方案包括:一种用于将光电探测器从插座中取下的装置,包括活动手柄、固定手柄、连杆、十字架、十字架固定螺母、卡头、支撑杆、工字架和转动块;活动手柄安装在转动块上,固定手柄安装在工字架一侧侧面上;转动块置于工字架顶面,转动块棱边中部的缺口与工字架的中间过孔对齐;连杆第一端穿过工字架的中间过孔置于转动块的缺口内,第一端上的连接孔与转动块的连接孔配合形成转动连接;转动块与工字架顶面配合,沿自身曲面转动,带动连杆沿中间过孔移动;支撑杆为一侧开口的框架结构,中部形成通槽,框架结构平行两边分别为支撑脚;各支撑杆一侧的凸起结构分别置于工字架两侧的缺口内,并通过凸起结构上的连接孔分别与工字架两侧的安装孔连接,支撑杆沿安装孔移动;十字架固定在连杆第二端,两端分别穿过两支撑杆的通槽并通过端部的连接孔分别与卡头端部连接,十字架带动卡头沿支撑杆移动。
所述连杆与工字架中间过孔间存在间隙,可相对运动;连杆连接孔与转动块的连接孔采用铆钉连接,铆钉与转动块间为过盈配合,铆钉与连杆间为间隙配合。
所述卡头包括两部分,一部分为平板结构,另一部分为长方形杆,平板结构位于长方形杆一侧;长方形杆一端开有缺口形成连接耳片,连接耳片上开有连接孔,另一端端部为L形弯钩,L形弯钩一侧面与平板结构之间存在缝隙;装配时,卡头长方形杆位于两支撑脚之间,支撑脚端部插入缝隙中。
所述卡头端部的缺口与十字架端部配合并通过端部的连接孔与十字架端部连接孔采用铆钉连接,铆钉架在支撑杆两侧支撑脚上的开口处,铆钉与支撑杆开口为间隙配合,铆钉与卡头连接孔及十字架连接孔为过盈配合。
所述支撑脚上的开口为条形孔。
所述工字架两侧安装孔为条形孔。
所述支撑杆与工字架的两个安装孔采用铆钉连接,铆钉与工字架安装孔间为间隙配合,铆钉与支撑杆间为过盈配合。
所述连杆中部有凸起结构,位于工字架、十字架之间。
所述十字架包括十字架中间过孔、位于两侧关于十字架中心轴对称的两个连接孔,十字架中间过孔位于十字架中心。
还包括螺母,连杆第二端从十字架中间过孔穿过且通过螺母固定,十字架的两个连接孔位于工字架的两个缺口同侧。
本发明与现有技术相比的优点在于:
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