[发明专利]便携电子设备电磁干扰飞机耦合路径损耗测试方法

权利要求书

1.一种便携电子设备电磁干扰飞机耦合路径损耗测试方法，其特征在于，所述损耗测试包含以下步骤：

S1、确定PEDs电磁干扰路径和模拟测试发射天线放置位置；

S2、根据飞机机载设备及其天线的各自工作频段，确定飞机干扰路径损耗的测试频段；

S3、建立飞机路径损耗测试系统，该损耗测试系统包含：频踪源，用于提供射频信号；发射天线，设置在飞机客舱内，通过第一测试电缆以及放大器连接频踪源；频谱分析仪，分别连接频踪源以及通过第二测试电缆和飞机天线电缆连接到飞机的机载天线；计算机，通过控制电缆连接频谱分析仪；

S4、进行路径损耗前的校准，确定飞机天线电缆损耗之外的额外损耗；确定发射通道中使用的第一测试电缆、接收通道中使用的第二测试电缆和飞机天线电缆的直通损耗；

S5、进行飞机耦合路径损耗测试，定位发射天线在飞机客舱内要测试的位置，使天线门缝辐射功率，设置频谱分析仪到最大值保持跟踪，测试获取发射天线在飞机客舱内要测试的各个位置处的轨迹和频谱分析仪接收到的耦合干扰信号的功率最大值；

S6、进行飞机路径损耗计算：

IPL＝P₍₁₎-P₍₂₎＝P_T+G_TF+G_TA-α_TL1-α_RL1-P_R(1)

式中，IPL表示路径损耗；P₍₁₎为发射天线的发射信号的辐射功率；P₍₂₎为飞机天线电缆接收的耦合干扰信号的功率最大值；P_T为频踪源产生的射频信号功率；G_TF为发射信号的放大器增益；G_TA为发射天线的增益；α_TL1为发射通道中使用的第一测试电缆的损耗；α_RL1为接收通道中使用的第二测试电缆的损耗；P_R为频谱分析仪测试的耦合干扰信号的功率最大值；

进行飞机上GPS系统路径损耗计算：

IPL＝P₍₁₎-P₍₃₎＝P_T+G_TF+G_TA-α_TL1-α_RL1-α_AL-P_R(2)

式中，P₍₃₎为飞机机载天线直接接收到的耦合干扰信号功率；α_AL为接收通道中飞机天线电缆的损耗。

2.如权利要求1所述的便携电子设备电磁干扰飞机耦合路径损耗测试方法，其特征在于，所述的步骤S4具体包含：

将发射天线位置设置在离飞机天线1m，配置频踪源跟踪频谱分析仪的频率扫描，以确定是否有飞机天线电缆损耗之外的额外损耗；

校准系统所用的所有测试电缆和飞机电缆的直通损耗，并转换成dB数，进行记录。

3.如权利要求1所述的便携电子设备电磁干扰飞机耦合路径损耗测试方法，其特征在于，所述的步骤S5具体包含：

S51、定位发射天线在飞机客舱内要测试的位置，要测试的位置包括窗口、门、座位及座位之间连接处；

S52、利用频踪源和放大器，为发射天线提供射频信号，使发射天线发射信号；

S53、设置频谱分析仪到最大值保持跟踪，连续在测试频段扫描；

S54、使发射天线移动或不动，在移动或不动的期间频谱分析仪始终设置成最大值保持跟踪，记录轨迹和测试的耦合干扰信号功率最大值；

S55、改变发射天线极化，进行路径损耗测试，使发射天线的垂直和水平极化都能测试到；

S56、重新部署发射天线到另一个位置，返回执行步骤S52进行下一次路径损耗测试，记录轨迹和测试的耦合干扰信号功率最大值，直到完成所有的测试位置。

4.如权利要求3所述的便携电子设备电磁干扰飞机耦合路径损耗测试方法，其特征在于，所述的步骤S54中：

若为窗口、座位及座位之间连接处测试，则发射天线不移动，若为飞机舱门测试，则发射天线沿门缝移动。