[发明专利]防伪膜

权利要求书

1.一种防伪膜，其中，包括：

透明基材层(10)，具有相对的第一表面和第二表面；

防伪图案层，设置在所述透明基材层(10)的第一表面和/或第二表面上，所述防伪膜在380～780nm范围内具有一个或多个峰宽在20～50nm的反射峰，且在波长380～780nm范围内从与防伪膜的垂直方向到与防伪膜的夹角为30°的角度，相应反射峰的波长向左偏移量小于30nm，

所述防伪图案层，包括镂空以形成防伪图案的折射材料部(20)，所述折射材料部(20)包括n个叠置的高低折射率材料单元，各所述高低折射率材料单元包括一个高折射率材料层(21)和与之配对的一个低折射率材料层(22)，所述折射材料部(20)包括至少一个膜系结构为│(α₁Hβ₁Lα₂Hβ₂L...α_mHβ_mL)│的膜堆，其中，H表示所述高折射率材料层(21)，L表示所述低折射率材料层(22)，n、m为正整数，且3＜n≤150，3＜m≤50，m≤n，同一个所述膜堆中的α₁，α₂，...，α_m以及β_m，...，β₂，β₁各自独立地满足同一个余弦波形或正弦波形上的同一递变规律；对于第i个所述高低折射率材料单元α_iHβ_iL，1≤i≤n,α_i表示第i个所述高折射率材料层(21)沿与所述透明基材层(10)垂直的方向上光学厚度占λ/4的倍数，β_i表示第i个所述低折射率材料层(22)沿与所述透明基材层(10)垂直的方向上光学厚度占λ/4的倍数，λ为膜堆的监控波长。

2.根据权利要求1所述的防伪膜，其中，所述波长向左偏移量的计算是从与防伪膜的垂直方向上进行测定时反射峰的反射率在50％的波长值与从与防伪膜的夹角为30°的角度进行测定时相应反射峰的反射率在50％的波长值的差的绝对值。

3.根据权利要求1所述的防伪膜，其中，同一个所述膜堆中，对于第i个所述高低折射率材料单元α_iHβ_iL，所述高折射率材料层(21)的光学厚度为α_i*λ/4，所述低折射率材料层(22)的光学厚度为β_i*λ/4，所述高折射率材料层(21)的折射率为N_H，所述高折射率材料层(21)的物理厚度为D_H，则存在N_H*D_H＝α_i*λ/4；所述低折射率材料层(22)的折射率为N_L，所述低折射率材料层(22)的物理厚度为D_L，则存在N_L*D_L＝β_i*λ/4；其中，α₁，α₂，...，α_m以及β_m，...，β₂，β₁各自独立地满足选自范围在0～2π的同一个所述正弦波形或余弦波形的左上半弦、左下半弦、右上半弦和右下半弦上的同一递变规律。

4.根据权利要求3所述的防伪膜，其中，所述防伪膜以455nm为监控波长时，α_i，β_i的取值范围在：0.01≤α_i≤3.2，0.01≤β_i≤3.2。

5.根据权利要求4所述的防伪膜，其中，所述防伪膜以455nm为监控波长时，α_i，β_i的取值范围在：0.05≤α_i≤2.8，0.05≤β_i≤2.8。