[发明专利]液晶面板亮度不均匀缺陷的检测方法和系统

说明书

本发明公开了一种液晶面板亮度不均匀缺陷的检测方法和缺陷检测系统包括：采集液晶面板各区域图像，对所述图像进行几何校正及滤波处理；记录每一行像素坐标值及灰阶值，依据灰阶值认定背景区域和亮度不均匀缺陷像素点；获取亮度不均匀缺陷结果；获取背景区域图像和亮度不均匀缺陷结果；对获取的亮度不均匀缺陷结果进行与运算，得到新的亮度不均匀缺陷结果；采用SEMU算法对不均匀缺陷等级进行量化，得到第一量化值；采用结构相似性算法对相似度进行量化，得到第二量化值；计算后划分液晶面板的缺陷等级。本发明便于生产线快速、稳定地检测液晶面板亮度不均匀缺陷和对液晶面板进行分级，控制成本，提高利润率。

技术领域

本发明涉及缺陷检测技术领域，特别是涉及液晶面板亮度不均匀缺陷检测方法和液晶面板亮度不均匀缺陷检测系统。

背景技术

液晶面板上的亮度不均匀缺陷就是一种典型的低对比度目标。在视觉上，亮度不均匀缺陷一般表现为可被人眼感知的、没有固定形状、边缘模糊的低对比度区域。而伴随着微电子技术的迅速发展，液晶显示器正向着大画面、低功耗、轻薄化、高分辨率的方向发展。这样的趋势在带来高视觉效果和便携性等诸多优点的同时也会使得产生显示缺陷的几率大大增加。当前国内液晶制造业对液晶面板亮度不均匀缺陷的检测大多数都还未脱离人工检测阶段，由经过培训的工人直接观察确定液晶面板是否存在亮度不均匀缺陷。但由于人工检测成本较高，检测时间较长，因此只能进行抽样检查，且人工评判标准不一，主观性较强，长时间工作易造成人眼疲劳，这些缺点均成为限制产线生产效率及检测精度提高的重要问题。同时人工检测的准确率不可控，可靠性相对较低。人工检测不能快速、稳定地检测液晶面板的亮度不均匀缺陷和对液晶面板进行分级。

发明内容

本发明主要解决的技术问题是提供一种液晶面板亮度不均匀缺陷的检测方法和系统，能够快速、稳定地检测液晶面板的亮度不均匀缺陷和对液晶面板进行分级。

为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种液晶面板亮度不均匀缺陷的检测方法，检测方法包括：采集液晶面板各区域图像，对图像进行几何校正及滤波处理；记录每一行像素坐标值及灰阶值，依据灰阶值认定背景区域和亮度不均匀缺陷像素点；采用阈值分割法获取亮度不均匀缺陷结果；采用独立成分分析算法获取背景区域图像和亮度不均匀缺陷结果；对阈值分割法和独立成分分析算法获取的亮度不均匀缺陷结果进行与运算，得到新的亮度不均匀缺陷结果；采用SEMU算法对所述液晶面板的亮度不均匀缺陷等级进行量化，得到第一量化值，采用结构相似性算法对液晶面板图像质量的相似度进行量化，得到第二量化值，使用第一量化值和第二量化值进行计算，根据计算结果划分液晶面板的缺陷等级。

其中，对图像进行几何校正及滤波处理的步骤具体包括：对图像进行二值化处理，采用边缘检测算法分辨图像和无关区域；根据图像的三条边或三个角将图像校正为垂直于水平面且与无关区域平行，建立三维坐标系，将像素的灰阶值设为Z轴；采用移动均值滤波器对校正后的图像进行滤波处理。

其中，记录每一行像素坐标值及灰阶值，依据灰阶值认定背景区域和亮度不均匀缺陷像素点的步骤具体包括：计算每一行像素灰阶值平均值μ及方差σ²，设定g为像素点的灰阶值，则将满足μ-σgμ+σ的像素点所在区域认定为背景区域；设定权重值为ω，ω＝(μ+g_min)/2，认定灰阶值为gμ+σ或gω的像素点为亮度不均匀缺陷像素点。

其中，采用阈值分割法获取亮度不均匀缺陷结果的步骤具体包括：连接亮度不均匀缺陷像素点，运用形态学侵蚀膨胀操作对亮度不均匀缺陷像素点进行缺陷分割，获取亮度不均匀缺陷结果；其中，对亮度不均匀缺陷像素点进行缺陷分割，获取亮度不均匀缺陷结果的步骤具体包括：对连接所述亮度不均匀缺陷像素点形成的缺陷分割区域包含的像素点数量进行统计；当所述像素点数量小于预设的阈值时，确定所述缺陷分割区域是由形态学侵蚀膨胀操作形成的噪声点，将所述区域认定为背景区域；当所述像素点数量大于预设的阈值时，确定所述缺陷分割区域为亮度不均匀缺陷区域。