[发明专利]放大镜和检测显示面板异物点的方法

说明书

技术领域

本发明涉及显示面板检测技术领域，具体的，本发明涉及放大镜和检测显示面板异物点的方法。

背景技术

目前，在液晶显示器(LCD)的阵列基板(TFT)制作过程中，容易出现很多异物点类的不良情况出现。根据发生层位的不同，主要分为两种类型，即液晶盒(Cell)内部的异物、偏光片(POL)与液晶盒(Cell)之间的异物，然后针对不同的发生层位，需要采取不同的措施对其进行改善。

现阶段，质检人员在发现异物点类的不良情况后，需要借助放大镜来确认出不良点的发生层位，放大镜下的异物如图1所示，之后还需要再借助标准比对卡来判定不良的大小，对比卡如图2所示。如此，就需要两步动作才能完成对异物点类不良情况的测量，操作上将放大镜和比对卡这两种辅助工具配合使用比较复杂，从而造成了检测过程耗时较久的问题。

所以，现阶段用于判定显示面板的不良点的辅助工具仍有待改进。

发明内容

本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。

本发明是基于发明人的下列发现而完成的：

本发明的发明人在研究过程中发现，目前点灯岗位的质检人员在判断出显示面板上不良点具体的类型和发生层位后，还需要使用带刻度尺的放大镜先测量出异物点的尺寸，其中放大镜的镜片上的刻度尺可参考图3，然后再将透明的带有点规(即异物点标样)的比对卡移至显示面板上，并使用一系列从小到大的不同直径尺寸的点规逐一覆盖异物点，当图1所示的异物点能被某个点规完全覆盖时，即可判断该显示面板是否合格。所以，配合使用放大镜和比对卡进行判定的步骤比较复杂和耗时。

针对上述技术问题，本发明的发明人设计了一种镜片带有刻度尺和异物点标样的放大镜，在质检人员在判断出显示面板上不良点的具体发生层位后，只需使用放大镜即可快速地完成异物点的尺寸测量和与标准点比对，无需再使用并移动对比卡，一步动作的操作更简便且耗时更少，可有效地缩短显示面板的质检时间，从而提升显示面板的不良分析效率。

有鉴于此，本发明的一个目的在于提出一种可同时将异物点与异物点标样比对、操作简便或者提升不良分析效率的放大镜。

在本发明的第一方面，本发明提出了一种放大镜。

根据本发明的实施例，所述放大镜包括：镜片，所述镜片上设置有异物点标样和刻度尺。

发明人意外地发现，本发明实施例的放大镜，其镜片带有刻度尺和异物点标样，当质检人员在发现显示面板上不良点时，并判断出其具体发生层位之后，只需使用该放大镜即可快速地完成异物点的尺寸测量和与标准点比对，无需再使用并移动对比卡，一步动作的操作更简便且耗时更少，可有效地缩短显示面板的质检时间，从而提升显示面板的不良分析效率。

另外，根据本发明上述实施例的放大镜，还可以具有如下附加的技术特征：

根据本发明的实施例，所述异物点标样设置在所述镜片的上部；所述刻度尺设置在所述镜片的中间。

根据本发明的实施例，所述镜片上设置有多个异物点标样。

根据本发明的实施例，所述多个异物点标样的个数为5个。

根据本发明的实施例，所述异物点标样为实心的圆。

根据本发明的实施例，所述多个异物点标样的直径尺寸不同。

根据本发明的实施例，所述镜片的放大倍率为20倍，且所述多个异物点标样的直径分别为0.10mm、0.15mm、0.20mm、0.25mm和0.30mm。

在本发明的第二方面，本发明提出了一种检测显示面板异物点的方法。

根据本发明的实施例，所述方法包括：发现显示面板上的不良点；当判断所述不良点为异物点时，通过放大镜上的异物点标样进行所述异物点的比对。

发明人意外地发现，采用本发明实施例的检测方法，在发现显示面板上不良点后，质检人员只需使用放大镜这一步操作，即可完成异物点与标准点比对，无需再使用对比卡的步骤，而且该检测方法的效率更高、耗时更短。

另外，根据本发明上述实施例的检测方法，还可以具有如下附加的技术特征：

根据本发明的实施例，所述发现显示面板上的不良点是通过以下步骤进行的：利用光源照射所述显示面板，在所述显示面板远离所述光源的一侧，通过肉眼观察所述显示面板。

根据本发明的实施例，在所述发现显示面板上的不良点之后，进行所述比对之前，所述方法进一步包括：通过所述放大镜确认所述不良点的发生层位。

本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。