[发明专利]一种多通道光波导芯片条自动测试装置及方法

说明书

本发明涉及一种多通道光波导芯片条自动测试装置及方法。本发明的输入端和自动找光系统与第一光路切换系统用光纤连接，第一光路切换系统的输出端与一进多出光分束器输入端连接，一进多出光分束器的输出端与输入端光纤阵列的输入光纤连接。输出端光纤阵列与第二光路切换系统的输入端相连，第二光路切换系统的输出端分别和多通道测试系统的多通道光功率计以及自动找光系统中的快速响应PD相连。本发明与现有技术相比，减少了人工操作的复杂性，提高了测试效率；同时保证了测试环境的相对一致性，避免了人工切换光路带来的额外损耗；本发明提供了多种测试方法，可以满足不同测试需求。

技术领域

本发明涉及一种自动测试装置及方法，属于光器件测试技术领域，具体涉及一种多通道光波导芯片条自动测试装置及方法。

背景技术

在对大量光波导器件进行测试中，单一逐个测试不仅需要重新搭建系统，而且测试环境不易保持一致。同时，现在的光波导器件不局限于一对一的输入输出通道，存在输入输出通道一对多，甚至多对多的情况，导致测试过程费时，费力且测试结果不准确。

电子元器件的批量测试已经研究比较完善，设备装置也已经应用于各种工业生产场合。相较于电子元器件的批量测试，阵列波导芯片的测试方法还不成熟。如何对阵列波导芯片进行批量测试以达到省时省力，同时又能满足大批量测试的需求成为亟待解决的问题。

发明内容

本发明主要是解决现有技术所存在的逐一测试耗时耗力且在一些耗时较长的测试项目中数据不稳定、可比性差的缺点，提供了一种多通道光波导芯片条自动测试装置及方法。采用该装置和方法所测试的阵列波导芯片条不需要进行抛光，能够有效的对芯片来料进行检测，避免造成后工序如切割、抛光、耦合等工序的浪费。

本发明的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的：

一种多通道光波导芯片条自动测试装置，包括：

阵列波导芯片条(8)，受驱动信号控制在一轨道上移动，其轨道两侧分别相对设置第一光路切换系统(3)与第二光路切换系统(4)；

其中：

所述第一光路切换系统(3)的输入端连接多通道测试系统(1)、自动找光系统(2)的光源输出口；

所述第二光路切换系统(4)的输出口连接第一光路切换系统(3)的功率计以及第二光路切换系统(4)的快速响应探测器。

优选的，上述的一种多通道光波导芯片条自动测试装置，所述轨道两侧分别设置有固定于自动微调架上的多通道光纤阵列，所述多通道光纤阵列分别与其同侧的光路切换系统相连。

优选的，上述的一种多通道光波导芯片条自动测试装置，所述多通道光纤阵列包括阵列光纤夹具，所述夹具上设置有若干用于容置光纤的凹槽，并且，所述光纤前端露出于所述凹槽。

优选的，上述的一种多通道光波导芯片条自动测试装置，所述自动微调架的移动方垂直于所述轨道方向。

优选的，上述的一种多通道光波导芯片条自动测试装置，所述第一光路切换系统(3)通过一进多出分束器(5)连接多通道光纤阵列。

优选的，上述的一种多通道光波导芯片条自动测试装置，所述多通道测试系统(1)包括依次连接的可调谐激光器(1-1)和偏振控制器(1-2)，所述偏振控制器(1-2)与其光源输出口相连。

优选的，上述的一种多通道光波导芯片条自动测试装置，所述阵列波导芯片条(8)设置于阵列波导芯片条夹具(13)中，该夹具与阵列波导芯片条底座(14)连接，所述阵列波导芯片条底座(14)受驱动信号控制在芯片阵列波导芯片条底座导轨(15)上移动。