[发明专利]一种光芯片自动耦合测试系统及方法

说明书

本发明涉及一种测试系统及方法，属于光器件领域，具体是涉及一种光芯片自动耦合测试系统及方法。本发明采用的光功率计为多通道设备，结合光矩阵切换光路功能时分复用一套测试设备，支持4‑8台工位的光芯片自动耦合及测试，优化了测试设备使用效率，节约设备及人工成本，实现光芯片的自动化耦合及自动化测试。

技术领域

本发明涉及一种测试系统及方法，属于光器件领域，具体是涉及一种光芯片自动耦合测试系统及方法。

背景技术

在光芯片领域，芯片耦合封装问题是光子芯片实用化过程中的关键问题，芯片性能的测试也是至关重要的一步骤，现有的耦合测试系统是将光芯片的输入输出端光纤置于显微镜下靠人工手工移动微调架转轴进行调光，并依靠对输出光的光功率进行监控，再反馈到微调架端进行调试。芯片测试则是将测试设备按照一定的方式串联连接在一起，形成一个测试站。具体的，所有的测试设备通过光纤，设备连接线等连接成一个测试站。例如将VOA光芯片的发射端通过光纤连接到光功率计，就可以测试光芯片的发端光功率。将光芯片的发射端通过光线连接到光谱仪，就可以测试光芯片的光谱等。

在上述耦合系统中，靠手工调整光纤存在对操作工技能要求高，工作效率低下，重复劳动时间长的弊端。

在上述测试系统中，所有测试设备都被一个测试站占用，无法实现设备的共享，现有技术的这种方式效率较低、成本较高、灵活性不佳。

发明内容

本发明主要是解决现有技术所存在的上述的技术问题，提供了一种光芯片自动耦合测试系统及方法。该系统及方法采用的光功率计为多通道设备，结合光矩阵切换光路功能时分复用一套测试设备，支持4-8台工位的光芯片自动耦合及测试，优化了测试设备使用效率，节约设备及人工成本，实现光芯片的自动化耦合及自动化测试。

本发明的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的：

一种光芯片自动耦合测试系统，包括：

自动耦合台，用于将光芯片的输入端和输出端分别耦合至光矩阵；

测试设备，通过光矩阵连接所述自动耦合台输入端，用于向光芯片提供测试光；

测试站，通过光矩阵连接所述自动耦合台输出端，用于根据接收到的光进行测试；

服务器，用于控制所述光矩阵从而将测试光源经选定的光芯片耦合至测试设备中。

优选的，上述的一种光芯片自动耦合测试系统，所述测试设备包括：可调激光器TLS，偏振控制器，ASE光源；所述ASE光源输出端通过1*N路耦合器连接自动耦合台。

优选的，上述的一种光芯片自动耦合测试系统，所述自动耦合台包含输入端、输出端与中间轴三部分，其中输入端与输出端是X、Y、Z三维电传式自动反馈微调架。

优选的，上述的一种光芯片自动耦合测试系统，还包括：PD光电二极管，连接光矩阵和测试站，用于实时测量和自动耦合台输出端相连的光矩阵输出光功率。

优选的，上述的一种光芯片自动耦合测试系统，所述光芯片包括AWG芯片、VOA芯片、、PLC芯片、Y波导中的一种或多种。

一种利用上述任一系统进行光芯片自动耦合测试的方法，包括：

芯片耦合步骤，用于通过芯片耦合台将光芯片的输入端和输出端分别耦合至光矩阵；

测试准备步骤，服务器根据测试请求，进行测试设备调度分配，通过控制所述光矩阵从而将测试光源经选定的光芯片耦合至测试设备中；

测试输出步骤，测试站接收测试结果进行本地显示及写入数据库。

优选的，上述的一种进行光芯片自动耦合测试的方法，测试输出步骤包括：