[发明专利]一种存储产品测试中的DMI刷新方法及系统

权利要求书

1.一种存储产品测试中的DMI刷新方法，其特征在于，该方法如下：利用测试系统自动侦测获取DMI中刷新内容，并将侦测的刷新内容和系统中待刷新内容做比对，通过比对结果确定是否对DMI做操作。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述的测试系统采用PXE灌装方式，测试操作前进入BIOS启动测试系统，自动灌装入内存，启动测试程序，不影响正常存储系统。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述的并将刷新内容和系统中待刷新内容做比对，通过比对结果确定是否对DMI做操作；包括，

如果比对结果一致，则不对DMI做操作，并显示测试结果。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述的并将刷新内容和系统中待刷新内容做比对，通过比对结果确定是否对DMI做操作；包括，

如果比对结果不一致，则测试系统自动刷入DMI信息，确定完成后，显示刷新结果并自动存取刷新LOG。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，该方法具体步骤如下：

步骤1）创建侦测模块，通过侦测模块在测试系统中自动侦测获取DMI中的刷新内容；

步骤2）创建比对模块，通过比对模块对侦测到的刷新内容和系统中待刷新内容做比对，如果比对结果一致则不做操作，转到步骤4）；如果比对结果不一致则转到步骤3）；

步骤3）创建刷新模块，通过刷新模块在系统中自动刷新DMI信息；

步骤4）创建显示模块，通过显示模块显示测试PASS；

步骤5）创建存储模块，通过存储模块存取测试刷新的LOG。

6.一种存储产品测试中的DMI刷新系统，其特征在于，包括侦测模块、比对模块、刷新模块、显示模块和存储模块；所述的侦测模块用于在测试系统中自动侦测获取DMI中的刷新内容；

所述的测试系统采用PXE灌装方式，测试操作前进入BIOS启动测试系统，自动灌装入内存，启动测试程序，不影响正常存储系统。

7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述的比对模块用于对侦测到的刷新内容和系统中待刷新内容做比对。

8.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述的刷新模块用于在系统中自动刷新DMI信息。

9.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述的显示模块用于显示测试PASS。

10.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述的存储模块用于存取测试刷新的LOG。