[发明专利]器件故障的电学检测方法、装置和显示模组

说明书

本发明提供一种器件故障的电学检测方法、装置和显示模组。所述器件故障的电学检测方法包括：在一检测阶段包括的置位时间段，向外部补偿线提供一预定置位电压，经过预定置位时间后进入该检测阶段包括的检测时间段；在该检测阶段包括的检测时间段，控制外部补偿线处于浮空状态，向数据线提供预定数据电压，向电源电压输入端提供预定电源电压，向数据写入控制端提供预定数据写入控制电压，向外部补偿控制端提供外部补偿控制电压，经过预定检测时间后，检测外部补偿线上的电压，并根据该电压判断外部补偿像素电路包括的器件是否发生故障。本发明解决在有机发光二极管显示面板制程中的各种暗点不良无法在点灯状态下被准确的检测的问题。

技术领域

本发明涉及显示不良检测方法，尤其涉及一种器件故障的电学检测方法、装置和显示模组。

背景技术

在OLED(Organic Light-Emitting Diode，有机发光二极管)显示领域中，会由于驱动模块的复杂程度较高，导致在Panel(面板)工艺制程上会有较高的难度，暗点不良高发且有些暗点不良上不可避免的。然而在现有的点灯测试中，难以准确检测各种暗点不良。并且，在工艺制程中会有很多测试区筛选显示面板，导致产品制作过程的良率损失较大，且很多不良是在测试后制程也会发生。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种器件故障的电学检测方法、装置和显示模组，解决现有技术中在OLED(有机发光二极管)显示面板制程中的各种暗点不良无法在点灯状态下被准确的检测的问题。

为了达到上述目的，本发明提供了一种器件故障的电学检测方法，应用于外部补偿像素电路，所述外部补偿像素电路与数据写入控制端、数据线、电源电压输入端、外部补偿控制端和外部补偿线连接，一检测阶段包括置位时间段和检测时间段，所述器件故障的电学检测方法包括：

在一检测阶段包括的置位时间段，向所述外部补偿线提供一预定置位电压，经过预定置位时间后进入该检测阶段包括的检测时间段；

在该检测阶段包括的检测时间段，控制所述外部补偿线处于浮空状态，向所述数据线提供预定数据电压，向所述电源电压输入端提供预定电源电压，向所述数据写入控制端提供预定数据写入控制电压，向所述外部补偿控制端提供外部补偿控制电压，经过预定检测时间后，检测所述外部补偿线上的电压，并根据该电压判断所述外部补偿像素电路包括的器件是否发生故障。

实施时，本发明所述的器件故障的电学检测方法具体包括：在第一检测阶段包括的置位时间段，向所述外部补偿线提供第一置位电压，经过第一预定置位时间后进入所述第一检测阶段包括的检测时间段；所述第一置位电压为第一正电压；

在所述第一检测阶段包括的检测时间段，控制所述外部补偿线处于浮空状态，向所述数据写入控制端提供第一数据写入控制电压，以使得数据写入晶体管的栅源电压大于该数据写入晶体管的阈值电压，向所述外部补偿控制端提供第一外部补偿控制电压，以使得外部补偿控制晶体管的栅源电压大于该外部补偿控制晶体管的阈值电压，向所述数据线提供第一数据电压，以使得驱动晶体管的栅源电压小于该驱动晶体管的阈值电压，向所述电源电压输入端提供第一电源电压，经过第一预定检测时间后，检测所述外部检测线上的电压，根据该电压判断所述外部补偿像素电路包括的器件是否发生故障；所述第一数据电压为第二正电压。

实施时，第一数据电压小于第一置位电压；所述根据该电压判断所述外部补偿像素电路包括的器件是否发生故障步骤包括：当检测到的所述外部检测线上的电压位于所述第一数据电压和所述第一置位电压之间时，判断到所述外部补偿像素电路包括的存储电容的两端之间短路。

实施时，所述外部补偿像素电路还与低电压输入端连接，所述低电压输入端输入的低电压小于所述第一置位电压；所述根据该电压判断所述外部补偿像素电路包括的器件是否发生故障步骤还包括：当检测到的所述外部检测线上的电压与所述低电压之间的差值的绝对值小于第一预定电压差值时，判断到所述外部补偿像素电路包括的发光元件的第一极与该发光元件的第二极之间短路。