[发明专利]组成网络拓扑结构的分析方法和分析程序

说明书

本发明提供通过分析特定元素的网络结构，可实现各种功能材料的特性提高的组成网络拓扑结构的分析方法和分析程序。对于含于样品的特定元素(在包含特定化合物的概念中使用)，求出可在规定的测定范围内三维测定浓度分布的分析对象三维体。将分析对象三维体分割成由更微细的多个三维体构成的单元网格。求出各自的单元网格的每一个所包含的上述特定元素的含量。求出在邻接的单元网格之间特定元素的含量分别为最大的极大点网格。通过和包含于分析对象三维体的极大点网格的关系，将样品具有的特定元素的组成网络拓扑结构定量化。

技术领域

本发明涉及组成网络拓扑结构的分析方法和分析程序。

背景技术

近年来，在电子、信息、通信设备等中要求低功耗化及高效率化。另外，面向低碳化社会，上述的要求变得更强烈。因此，要求用于电子、信息、通信设备等的各种功能材料的特性提高。

例如，作为用于电源电路的磁芯，要求导磁率的提高及磁芯损耗(core loss)(磁芯损失)的降低。如果降低磁芯损耗，则电能损耗减少，实现高效率化及节能化。

作为降低磁芯的磁芯损耗的方法，认为有降低构成磁芯的磁体的矫顽力的方法。为了降低磁体的矫顽力，进行着新的组成的磁性材料的开发。另外，专利文献1中记载有通过使粉末的颗粒形状变化，得到导磁率大，磁芯损耗小，适于磁芯的软磁性合金粉末。

然而，目前，未开发通过在构成各种电子零件的功能材料中，分析特定元素的网络结构，实现各种功能材料的特性提高的手段。

专利文献1：日本特开2000-30924号公报

发明内容

本发明是鉴于这种实际情况而创立的，其目的在于，提供一种通过分析特定元素的网络结构，可实现各种功能材料的特性提高的组成网络拓扑结构的分析方法和分析程序。

为了实现上述目的，本发明的组成网络拓扑结构的分析方法具有下述工序：

对于样品中所含的特定元素(在包含特定化合物的概念中使用)，求出在规定的测定范围内可三维测定浓度分布的分析对象三维体的工序；

将所述分析对象三维体分割成由更细微的多个三维体构成的单元网格(unitgrid)的工序；

求出各自的所述单元网格的每一个所含的所述特定元素的含量的工序；

求出在邻接的所述单元网格之间所述特定元素的含量分别为最大的极大点网格的工序；和

根据和所述分析对象三维体所含的所述极大点网格的关系，将所述样品具有的所述特定元素的组成网络拓扑结构定量化的工序。

例如使用三维原子探针，对在分析对象三维体的内部存在的特定元素的含量进行三维测定。基于该测定数据，根据本发明的方法，能够容易求出极大点网格的数量(或极大点网格的配位数、或极大点网格彼此相连的长度)等。基于该极大点网格，可将样品的特定元素的组成网络拓扑结构的程度数值化。只要能够将组成网络拓扑结构的程度数值化，则可使该程度和该样品的磁特性等诸特性建立关系，作为原料开发的辅助能够有效使用。

即，可以将特定元素的组成网络拓扑结构的程度、和样品具有的磁特性等诸特性相关联进行分析。或者，还可实现特定元素的组成网络拓扑结构的程度、和用于制造该样品的制造方法的最佳化。

组成网络拓扑结构的分析方法还可以具有下述工序：

连结在所述分析对象三维体的内部存在的多个所述极大点网格的中心，形成虚拟连接线的工序；

基于规定的规则，消除交叉的所述虚拟连接线，形成最终虚拟连接线的工序；和

将与各自的所述极大点网格相连的所述最终虚拟连接线的数作为配位数进行设定的工序，