[发明专利]磁力计校准方法及设备

说明书

本发明提供一种磁力计校准方法及设备。其中，方法包括：从磁力计的三个轴中，选择第一待测轴和第二待测轴；其中，第一待测轴和第二待测轴是磁力计的三个轴中任意两个轴；在磁力计在第一待测轴和第二待测轴所在平面内绕第三待测轴旋转过程中，分别读取第一待测轴和第二待测轴在磁力计旋转至多个指定角度时的多个测量值；其中，第三待测轴是磁力计的三个轴中除第一待测轴和第二待测轴之外的轴；根据第一待测轴的多个测量值、第二待测轴的多个测量值以及多个指定角度，拟合椭圆方程；椭圆方程用于对第一待测轴和第二待测轴的实际测量值进行校准。本实施例提供的方法可以准确对磁力计进行校准。

技术领域

本发明涉及传感器技术领域，尤其涉及一种磁力计校准方法及设备。

背景技术

磁力计是通过测量磁场的强度和方向来对设备进行定位的传感器。当磁力计所测量的磁场只由地磁场产生时，磁力计可精确对设备进行定位。但是，由于硬铁效应和软铁效应的存在，会对地磁场产生干扰，进而导致磁力计的测量结果出现比较大的偏差，需要对磁力计的测量结果进行校准。

现有技术中，一般采用8字校准法对磁力计进行校准，即用户手持设备在空中划8字，设备内的磁力计实时采集三个轴各旋转360度的测量数据，并通过分析测量数据进行校准。这种方法依赖于用户的8字操作，如果用户操作不当，如未将磁力计的某个轴旋转到360度，磁力计没有采集到足够的数据，就会校准失败。

发明内容

本发明的多个方面提供一种磁力计校准方法及设备，用以提高对磁力计校准的准确性。

本发明实施例提供一种磁力计校准方法，包括：

从磁力计的三个轴中，选择第一待测轴和第二待测轴；其中，所述第一待测轴和所述第二待测轴是所述磁力计的三个轴中任意两个轴；

在所述磁力计在所述第一待测轴和所述第二待测轴所在平面内绕第三待测轴旋转过程中，分别读取所述第一待测轴和所述第二待测轴在所述磁力计旋转至多个指定角度时的多个测量值；其中，所述第三待测轴是所述磁力计的三个轴中除所述第一待测轴和所述第二待测轴之外的轴；

根据所述第一待测轴的多个测量值、所述第二待测轴的多个测量值拟合椭圆方程；

根据所述椭圆方程对所述第一待测轴的实际测量值和所述第二待测轴的实际测量值进行校准，获得所述第一待测轴的校准值和所述第二待测轴的校准值。

可选地，对于所述多个指定角度中的第一指定角度，所述分别读取所述第一待测轴和所述第二待测轴在所述磁力计旋转至所述第一指定角度时的测量值，包括：

在所述磁力计在所述第一待测轴和所述第二待测轴所在平面内绕第三待测轴旋转过程中，获取所述磁力计所在设备中的加速度计的三个轴的加速度值；其中，所述第一待测轴和所述第二待测轴所在平面为非水平面；

将所述加速度计的三个轴的加速度值在旋转角度与基准三轴加速度值的对应关系中进行匹配；

当所述加速度计的三个轴的加速度值与所述第一指定角度对应的基准三轴加速度值相匹配时，读取所述第一待测轴和所述第二待测轴在所述磁力计旋转至所述第一指定角度时的测量值。

可选地，所述读取所述第一待测轴和所述第二待测轴在所述磁力计旋转至所述第一指定角度时的测量值，包括：

读取所述第一待测轴和所述第二待测轴在所述磁力计沿水平面旋转时的至少两个测量值；

分别求取所述第一待测轴和所述第二待测轴在所述磁力计沿水平面旋转时的至少两个测量值的平均值，作为所述第一待测轴和所述第二待测轴在所述磁力计旋转至所述第一指定角度时的测量值。

可选地，所述方法还包括显示以下至少一种信息：

显示所述第一指定角度对应的基准三轴加速度值；