[发明专利]对芯片进行FPGA原型验证的方法和装置

说明书

技术领域

本发明实施例涉及电子技术，尤其涉及一种对芯片进行FPGA原型验证的方法和装置。

背景技术

随着计算机技术和微电子技术的迅速发展，芯片(chip)的应用领域越来越广泛。芯片是内含集成电路(Integrated Circuit，简称IC)的硅片，其体积很小，常常是计算机或其他电子设备的一部分。其中，集成电路就是把一定数量的常用电子元件，如电阻、电容、晶体管等，以及上述电子元件之间的连线，通过半导体工艺集成在一起的具有特定功能的电路。随着半导体工艺的飞速发展和芯片工作频率的提高，芯片的功耗迅速增加，而功耗的增加又将导致芯片发热量的增大和可靠性的下降。因此，功耗已经成为集成电路设计中的一个重要考虑因素。为了使产品更具竞争力，对芯片设计的要求已从单纯追求高性能、小面积转为对性能、面积、功耗的综合要求。

芯片设计通常包括芯片的验证，芯片的验证就是验证所设计的逻辑代码是否符合预期的要求，是否符合原来定义好的规范。随着芯片规模的增大，芯片设计中验证需要的时间越来越长，占整个设计周期的比例越来越大。为了提高验证速度，出现多种验证方法。比如动态仿真、静态检查、虚拟模型、硬件加速、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，简称FPGA)原型验证等。其中由于FPGA工艺及技术的发展，其速度、容量和密度都大大增加，功耗和成本在不断的降低，使得基于FPGA的原型验证得到广泛的应用。并且，FPGA原型验证对于普通数字电路中的基本逻辑设计，具有很好的匹配，但是FPGA原型验证无法对需要进行低功耗控制的数字电路进行很好的验证。

发明内容

本发明实施例提供一种对芯片进行FPGA原型验证的方法和装置，以实现在常规FPGA上模拟集成电路中的电源管理行为，使得FPGA的逻辑行为能够与集成电路相一致，对芯片设计提供有效参考依据。

第一方面，本发明实施例提供一种对芯片进行FPGA原型验证的方法，包括：

从芯片的统一电源管理格式UPF文件中提取属于第一电源管理属性类的第一UPF指令，所述第一电源管理属性类包括关断控制属性、电源开关属性和保持寄存器属性；

根据芯片的寄存器传输级RTL文件构建逻辑设计的层次结构；

逐条读取所述第一UPF指令，在所述层次结构中查找与所述第一UPF指令对应的逻辑单元；

根据所述第一UPF指令的属性修改所述逻辑单元的RTL代码，生成FPGA文件，并利用所述FPGA文件对所述芯片进行FPGA原型验证。

第二方面，本发明实施例提供一种对芯片进行FPGA原型验证的装置，包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序，以实现如上述第一方面所述的方法。

第三方面，本发明实施例提供一种计算机存储介质，包括：所述计算机存储介质用于存储计算机程序，所述计算机程序执行时用于实现上述第一方面所述的方法。

本发明实施例对芯片进行FPGA原型验证的方法和装置，通过从芯片的UPF文件中提取属于第一电源管理属性类的第一UPF指令，该第一电源管理属性类包括关断控制属性、电源开关属性和保持寄存器属性，根据芯片的RTL文件构建逻辑设计的层次结构，逐条读取该第一UPF指令，在该层次结构中查找与该第一UPF指令对应的逻辑单元，根据该第一UPF指令的属性修改该逻辑单元的RTL代码，生成FPGA文件，并利用该FPGA文件对所述芯片进行FPGA原型验证，从而可以在常规FPGA上模拟集成电路中的电源管理行为，使得FPGA的逻辑行为能够与集成电路相一致，对芯片设计提供有效参考依据。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明对芯片进行FPGA原型验证的方法实施例一的流程图；

图2为本发明对芯片进行FPGA原型验证的方法施例二的流程图；

图3为本发明一种编译工具下实现对芯片进行FPGA原型验证方法的示意图；

图4为本发明对芯片进行FPGA原型验证的装置实施例一的结构示意图。

具体实施方式