[发明专利]阵列基板及阵列基板测试结构

说明书

技术领域

本发明涉及触控技术领域，尤其涉及一种阵列基板及阵列基板测试结构。

背景技术

随着科学技术的不断发展，越来越多的具有显示功能的电子装置被广泛的应用于人们的日常生活以及工作当中，为人们的日常生活以及工作带来了巨大的便利，成为当今人们不可或缺的重要工具。电子装置通常包括阵列基板。阵列基板包括非显示区以及显示区。显示区通常设置用于驱动电子装置工作的功能线路，比如触控电极等。非显示区围绕所述显示区设置，通常用于设置测试引脚等。电子装置的制作过程要将阵列基板与液晶层以及彩膜基板进行成盒，封装。而在成盒之后或者成盒之前一般会对阵列基板的功能线路进行短路或断路的测试。为了对阵列基板进行测试，传统方式是在阵列基板的非显示区域中出引脚的端口设置专门测试阵列基板功能线路短路或断路的测试开关电路及专门的测试信号输入端子。为方便扎探针，测试开关电路信号输入端子的体积往往比较大(单个端子400um×400um，共有10～20个)，会占用较大空间，不便于电子装置的窄边框设计。

发明内容

本发明提供一种阵列基板。一种阵列基板，所述阵列基板包括显示区及非显示区，所述非显示区设置有多个测试信号接收引脚、多个压合引脚以及多个传输线，所述测试信号接收引脚与所述压合引脚排列成一排。

其中，所述测试信号接收引脚与所述压合引脚尺寸一致。

其中，所述压合引脚用于连接COF模块，所述测试信号传输线电连接所述测试电路及测试信号接收引脚，多个所述测试信号接收引脚用于接收N个测试信号，并将N个所述测试信号经由所述测试信号传输线传输至所述测试电路，所述测试电路设置于所述非显示区邻近所述显示区的一端，用于根据N个所述测试信号得到M个测试信号，并将M个测试信号传输至所述显示区中的功能线路，以检测所述功能线路是否短路或者断路，所述测试电路与所述非显示区远离所述显示区的一端的距离小于或等于预设距离，其中，N和M均为正整数，且M大于N。

其中，所述测试信号接收引脚设置在所述压合引脚的左右两侧位置上，并与所述压合引脚呈直线排列成一排。

其中，所述压合引脚与所述测试信号接收引脚的间隔区域设置有定位条，用于所述测试治具的定位，其中，所述测试治具用于产生N个所述测试信号。

可选的，所述定位条为金属材质，所述定位条作为所述压合引脚与所述测试信号接收引脚的共同的接地端。

其中，所述定位条邻近所述测试信号接收引脚的一侧设置有固定件，所述固定件用于固定测试治具。

相较于现有技术，本发明的阵列基板将所述测试信号接收引脚的尺寸与所述压合引脚呈直线排列成一排，通过对测试信号接收引脚与压合引脚的重新排列，使得非显示区的结构更加紧凑，有利于触控装置的窄边框设计。

本发明还提供一种阵列基板测试结构。所述阵列基板测试结构包括测试治具及阵列基板，所述测试治具用于产生N个测试信号，所述阵列基板包括显示区及非显示区，所述非显示区设置有多个测试信号接收引脚、多个压合引脚以及多个传输线，所述测试信号接收引脚与所述压合引脚排列成一排。

其中，所述测试信号接收引脚设置在所述压合引脚的左右两侧位置上，并与所述压合引脚呈直线排列成一排。

其中，所述压合引脚与所述测试信号接收引脚的间隔区域上设置有定位条，用于所述测试治具的定位。

本发明还提供一种触控装置。所述触控装置包括所述阵列基板。

附图说明

为了更清楚地阐述本发明的构造特征和功效，下面结合附图与具体实施例来对其进行详细说明，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明一较佳实施例提供的阵列基板的结构示意图。

图2是本发明另一较佳实施例提供的阵列基板的结构示意图。

图3是本发明又一较佳实施例提供的阵列基板的结构示意图。

图4是本发明一较佳实施例提供的阵列基板测试结构的结构示意图。

图5是本发明另一较佳实施例提供的阵列基板测试结构的结构示意图。

图6是本发明又一较佳实施例提供的阵列基板测试结构的结构示意图。

图7是本发明一较佳实施例提供的触控装置的结构示意图。

具体实施例