[发明专利]蒸镀掩模、蒸镀掩模准备体、蒸镀掩模的制造方法、及有机半导体元件的制造方法有效
| 申请号: | 201710872210.3 | 申请日: | 2014-03-24 |
| 公开(公告)号: | CN107858642B | 公开(公告)日: | 2020-04-21 |
| 发明(设计)人: | 武田利彦;小幡胜也;落合洋光 | 申请(专利权)人: | 大日本印刷株式会社 |
| 主分类号: | C23C14/04 | 分类号: | C23C14/04;C23C14/24;H01L51/56 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 沈雪 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 蒸镀掩模 准备 制造 方法 有机半导体 元件 | ||
本发明提供一种即使在大型化的情况下,也可以满足高精细化及轻质化二者,且可在保持强度的同时,形成高精细的蒸镀图案的蒸镀掩模、及可简便地制造该蒸镀掩模的蒸镀掩模的制造方法;蒸镀掩模准备体;以及可制造高精细的有机半导体元件的有机半导体元件的制造方法。叠层设有多个缝隙(15)的金属掩模(10)和树脂掩模(20),在树脂掩模(20)上设有用于构成多个画面所必要的开口部(25),开口部(25)与要蒸镀制作的图案相对应,各缝隙(15)设于与至少1个画面整体相重叠的位置。
本申请是申请日为2014年3月24日、申请号为201480020615.9的中国发明申请“蒸镀掩模、蒸镀掩模准备体、蒸镀掩模的制造方法、及有机半导体元件的制造方法”的分案申请。
技术领域
本发明涉及蒸镀掩模、蒸镀掩模准备体、蒸镀掩模的制造方法、及有机半导体元件的制造方法。
背景技术
目前,在有机EL元件的制造中,形成有机EL元件的有机层或阴极电极时,使用例如在应蒸镀的区域以微小间隔平行排列多个微细缝隙而成的金属制蒸镀掩模。在使用该蒸镀掩模的情况下,在应蒸镀的基板表面载置蒸镀掩模,从背面使用磁铁来保持,但是,由于缝隙的刚性极小,所以在将蒸镀掩模保持在基板表面时,容易在缝隙处发生变形,妨碍高精细化或缝隙长度大的制品大型化。
对于用于防止缝隙变形的蒸镀掩模,已进行各种检讨,例如在专利文献1中公开了一种蒸镀掩模,其具备:具有多个开口部的兼作第一金属掩模的底板、在覆盖上述开口部的区域具备多个微细缝隙的第二金属掩模、在向缝隙的长度方向拉伸的状态下使第二金属掩模位于底板上的掩模拉伸保持装置。即,公开了一种组合有2种金属掩模的蒸镀掩模。根据该蒸镀掩模,不会在缝隙处发生变形,而可确保缝隙精度。
但是,近年来随着使用有机EL元件的制品的大型化或基板尺寸的大型化,对于蒸镀掩模,大型化的要求不断增高,制造金属制蒸镀掩模时所使用的金属板也逐渐大型化。但是,在现在的金属加工技术中,难以在大型金属板上高精度地形成缝隙,即使通过上述专利文献1所公开的方法等可防止缝隙部变形,也无法对应缝隙的高精细化。另外,在形成为仅由金属构成的蒸镀掩模的情况下,随着大型化,其质量也增大,包含框架的总质量也增大,因此会在处理时造成障碍。
在上述所公开的蒸镀掩模中,为实现蒸镀掩模的轻质化,需要使由金属构成的蒸镀掩模的厚度变薄。但是,在使由金属构成的蒸镀掩模的厚度变薄的情况下,存在蒸镀掩模的强度降低、且蒸镀掩模发生变形的情况,或存在难以处理等新的问题。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2003~332057号公报
发明内容
发明所要解决的课题
本发明是鉴于如上的状况而进行的,其主要课题在于,提供一种在大型化的情况下,也能够满足高精细化及轻质化二者,而且可在保持强度的同时,形成高精细的蒸镀图案的蒸镀掩模;提供可简便地制造该蒸镀掩模的蒸镀掩模的制造方法和蒸镀掩模准备体;以及提供可高精度地制造有机半导体元件的有机半导体元件的制造方法。
用于解决课题的技术方案
用于解决上述课题的本发明提供一种用于同时形成多个画面的蒸镀图案的蒸镀掩模,其特征在于,叠层有树脂掩模和设有多个缝隙的金属掩模,在所述树脂掩模上设有用于构成多个画面所必要的开口部,所述开口部与要蒸镀制作的图案相对应,各所述缝隙设于与至少1个画面整体相重叠的位置。
另外,用于解决上述课题的本发明提供一种蒸镀掩模,其特征在于,将设有1个贯通孔的金属掩模和设有多个与要蒸镀制作的图案相对应的开口部的树脂掩模叠层,所述多个开口部全部设于与所述1个贯通孔重叠的位置。
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