[发明专利]多层级连动结构的分析方法在审
申请号: | 201710867298.X | 申请日: | 2017-09-22 |
公开(公告)号: | CN109543146A | 公开(公告)日: | 2019-03-29 |
发明(设计)人: | 邱无难 | 申请(专利权)人: | 邱无难 |
主分类号: | G06F17/18 | 分类号: | G06F17/18;G06Q40/06 |
代理公司: | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 | 代理人: | 孙皓晨 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 连动结构 多层级 分析 技术分析 周线 参考 | ||
本发明公开了一种多层级连动结构的分析方法,其步骤包含有:设定至少两条均线;选择一基准均线;以及判断该基准均线的趋势。该分析方法仅使用单一线图即超越现有的技术分析模式,所以于使用该分析方法时可无须同时参考日线图、周线图与月线图,即可做出精准的判断。
技术领域
本发明涉及一种多层级连动结构的分析方法,尤指一种层级式技术分析模式,并且能得出较高准确度的结果的分析方法。
背景技术
随机指针(KD值)、平滑异同平均线(MACD)、相对强弱指标(RSI)、心理线(PSY)、动量指标(MTM)、乖离率(BIA)、腾落指标(ADL)、涨跌比率(ADR)、逆势操作(CDP)、振荡指标(OSC)或K线理论(蜡烛图)的技术分析,其常被投资人所应用,以判断市场是处于多方还是空方。
常见的技术分析方式为随机指标(KD值)、平滑异同平均线(MACD)与K线理论的组合,举例而言,当日线的K线转为多方,随机指标的K值约于25以下,平滑异同平均线的DIF线向上且柱状线由负转正,可视为购入时间点。
当日线的K线转为空方,随机指标的K值约于80以上,平滑异同平均线的DIF线向下且柱状线由正转负,可视为卖出时间点。
如上所述,常见的技术分析方式存在不准确因素,主要是随机指标的参数设定为9日,所以随机指标是以较短的周期进行分析,故容易差之毫厘,失之千里,进而造成投资人的亏损。因此如何提升技术分析的准确性,以提高投资人获利的可能性,其成为可以讨论的项目。
发明内容
本发明为解决前述现有技术所存在的问题而创造出一种多层级技术分析方法,以达到得出的结论具有较高准确度的目的。
为了可达到前述目的,本发明所运用的技术手段在于提供一种多层级连动结构的分析方法,其步骤包含有:
设定至少两条均线,于一线图的主图中设定至少两条均线,其一均线参数为X,另一均线的参数为X的数倍,该两条均线呈一层级排列;
选择一基准均线,将上述的参数为数倍的均线设定为一基准均线;以及
判断该基准均线的趋势,若该基准均线向上,则判断为多方趋势;若该基准均线向下,则判断为空方趋势。
于一实施例中,一设定至少两个指标的步骤,于该线图的附图设定至少两个指标,其一指标的参数为Y,另一指标的参数为Y的数倍,该两个指标呈一层级排列;该参数为X的均线连动该参数为Y的指标,该参数为X的数倍连动该参数为Y的数倍的指标;
选择一基准指标,将上述的参数为数倍的指标设定为一基准指标,该基准指标对应该基准均线;该基准指标位于一基准范围;
K线突破任一均线,K线突破任一均线,该均线可视为一所选择均线,并且该基准均线为多方趋势;以及
判断为疑似转多点位或疑似转空点位,读取所选择均线的对应指标,若该指标位于一疑似转多范围中,则为疑似转多点位;若该指标位位于一疑似转空范围中,则为疑似转空点位。
于一实施例中,于该设定至少两条均线与至少两个指标的步骤中,于该日线图的主图中设定至少六条均线,其依序为一第一均线、一第二均线、一第三均线、一第四均线、一第五均线与一第六均线;该第一均线的参数为X,该第二均线至该第六均线的参数为2X、4X、8X、16X与32X;于该日线图的附图中设定至少六个指标,其依序为一第一指标、一第二指标、一第三指标、一第四指标、一第五指标与一第六指标;若该第一指标的参数为Y,该第二指标至该第六指标的参数为2Y、4Y、8Y、16Y与32Y;该第一均线对应该第一指标;该第二均线对应该第二指标;该第三均线对应该第三指标;该第四均线对应该第四指标;该第五均线对应该第五指标;该第六均线对应该第六指标。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于邱无难,未经邱无难许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710867298.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。