[发明专利]一种金属探测器以及金属探测器对其检测线圈进行补偿的方法在审
申请号: | 201710864187.3 | 申请日: | 2017-09-22 |
公开(公告)号: | CN107831547A | 公开(公告)日: | 2018-03-23 |
发明(设计)人: | 陈靓悦 | 申请(专利权)人: | 永康市卓图工贸有限公司 |
主分类号: | G01V3/11 | 分类号: | G01V3/11 |
代理公司: | 杭州千克知识产权代理有限公司33246 | 代理人: | 赵芳 |
地址: | 321300 浙江省金*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 金属探测器 以及 检测 线圈 进行 补偿 方法 | ||
技术领域
本发明属于安检设备技术领域,尤其是一种一种金属探测器以及金属探测器对其检测线圈进行补偿的方法。
背景技术
目前,金属探测器可以检知隐藏的金属物件,已广泛应用于军事、安检、矿产、工业、日常生活等方面,金属探测器利用电磁感应原理,内部设有控制器、发射线圈、接收线圈,控制器控制发射线圈产生周期性变化的交变磁场,交变磁场在金属探测器周围产生涡旋电场,如果金属探测器靠近金属,涡旋电场接收线圈上形成涡电流,从而被金属探测器内部的控制器感应到,从而控制发出报警提醒的信号。
这种金属探测器制造工艺简单、成本低、容易实现。但是这种探测隐藏金属物体最大的技术困难在于被测金属反射信号很小、灵敏度低。受到金属的体积和金属的属性原因,特别是在含铁金属物体体积小或者金属物体属于非含铁金属时,信号输出很小,这将会导致探测的难度。
为探测到这种微弱的信号和提高金属探测器的测量灵敏度,就必须从接收线圈处获得更大的信号,那么势必需要提高接收线圈圈数,提高接收线圈后,在没有金属进入磁场时,接收线圈能直接从发射线圈处获得更大的反射信号,但是,在金属进入磁场后,线圈耦合后的信号会成倍增加,会使信号输出超出测量范围,反而使控制器无法准确获得被测信号。
理想情况是在没有金属时,输出一个为0的信号。当有金属进入金属探测器的交变磁场中时,输出信号随着金属的距离靠近慢慢变大。当金属已经靠近金属探测器时,输出信号刚好接近满量程。这样既可以准确判断金属,也能显著提升灵敏度。
为实现这样一个功能,增加一个接收线圈产生一个反电压,将原来的接收的信号抵消掉。同时,这个线圈本身又对金属产生的磁场灵敏度较低。因此,当有金属进入磁场范围内就输出一个差压。
在生产过程中,发射线圈的安装造成的间隙、发射线圈的不均匀性都可能导致这个差压信号不为0,甚至可能很大,这时就会导致检测线圈本身失效。
发明内容
为解决现有技术存在的上述技术问题,本发明提供一种金属探测器以及对其检测线圈补偿的方法。
1.一种金属探测器,包括:磁场发射单元,磁场接收单元,报警器;所述磁场发射单元包括发射线圈;所述磁场接收单元包括接收线圈,所述接收线圈包括第一接收线圈、第二接收线圈,所述第二接收线圈上设有细补偿开关;所述第一接收线圈与所述第二接收线圈绕制方向相反,所述第二接收线圈靠近所述发射线圈;所述报警器与所述磁场接收单元电连接。
优选地,所述发射线圈与所述接收线圈位于同一平面且圆心重叠。
优选地,所述第二接收线圈均分为四组,每组设有两个细补偿开关;所述细补偿开关设于所述第二接收线圈的最外圈。
优选地,所述发射线圈和所述接收线圈设置为圆形。
优选地,粗补偿线圈,所述粗补偿线圈位于所述第二接收线圈与发射线圈之间。
优选地,所述粗补偿线圈与所述第二接收线圈绕制方向相同。
优选地,所述粗补偿线圈均分为四组,每组设有两个粗补偿开关,所述粗补偿开关设于所述粗补偿线圈的最外圈。
优选地,所述粗补偿开关与所述细补偿开关之间相隔45°的空间角度差。
一种金属探测器对其检测线圈进行补偿的方法,其特征在于,包括步骤:S1.所述磁场发射单元产生交流磁场;S2.所述磁场接收单元判断是否有金属介入交流磁场,若是,所述第一接收线圈根据不同的金属产生不同的感应强度;S3.所述报警器根据不同的感应强度发出不同频率的报警信号;S4.若没有金属介入交流磁场,则判断所述交变磁场是否均匀,若不均匀,则打开所述细补偿开关调节所述第二接收线圈产生磁场强度的大小。
优选地,所述步骤S4还包括:打开所述粗补偿开关,调节磁场所述粗补偿线圈产生磁场强度的大小。
本发明的有益效果是:本发明中的金属探测器,通过第二接收线圈、补偿开关对第一接收线圈的线圈之间不均匀、不同心进行第一重补偿,通过粗补偿线圈、粗补偿开关对发射线圈轴线偏移进行第二重补偿,这种双补偿方法可针对线圈生产安装工艺、电子元器件产生的偏差进行补偿,从而提高金属探测器的探测灵敏度和探测到微弱信号的能力。
附图说明
图1是本发明金属探测器实施例的电路原理图;
图2是本发明金属探测器的检测线圈最佳实施例的结构示意图;
图3是本发明金属探测器的检测线圈第二实施例的结构示意图;
图4是本发明金属探测器的检测线圈第三实施例的结构示意图。
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