[发明专利]确定逻辑存储单元性能的方法和装置有效

专利信息
申请号: 201710856739.6 申请日: 2017-09-21
公开(公告)号: CN109542695B 公开(公告)日: 2022-05-24
发明(设计)人: 吴熊楚;方维 申请(专利权)人: 华为技术有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22;G06F11/26
代理公司: 北京龙双利达知识产权代理有限公司 11329 代理人: 张振;张欣
地址: 518129 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 确定 逻辑 存储 单元 性能 方法 装置
【说明书】:

本申请提供了一种确定逻辑存储单元存储性能的方法及装置。该方法包括:获取第一逻辑存储单元LUN的性能参数,性能参数包括带宽、队列深度、每秒进行读写操作的次数IOPS以及IO分布中的至少一种,第一LUN为存储系统中的任意一个LUN;根据第一LUN的性能参数以及延时预测模型,确定第一LUN的延时预测值,其中,延时预测模型包含存储系统中的LUN的性能参数与存储系统中的LUN的延时的映射关系;确定第一LUN的延时预测值与第一LUN的延时实际值的偏差;根据第一LUN的延时预测值与第一LUN的延时实际值的偏差,确定第一LUN的性能是否正常。本申请能够对LUN的性能进行更好的估计。

技术领域

本申请涉及存储技术领域,并且更具体地,涉及一种用于确定逻辑存储单元性能的方法和装置。

背景技术

逻辑存储单元(Logical Unit,LUN)位于存储系统的最上层,LUN在整个存储系统中起着至关重要的作用,当存储系统出现问题时,往往需要对LUN进行性能分析,以确定LUN是否存在性能问题。

在对LUN进行性能分析的过程中,现有方案一般是由存储专家根据LUN的性能日志中记录的性能参数以及自身的工作经验来推断LUN是否存在性能问题。但是这种分析LUN性能的方式会加入个人的经验,分析的可靠性和准确性并不高。

发明内容

本申请提供一种确定逻辑存储单元性能的方法和装置,以提高LUN性能分析的准确性和可靠性。

第一方面,提供了一种确定逻辑存储单元性能的方法,获取第一逻辑存储单元LUN的性能参数,所述性能参数包括带宽、队列深度、每秒进行读写操作的次数IOPS以及IO分布中的至少一种,所述第一LUN为所述存储系统中的任意一个LUN;根据所述第一LUN的性能参数以及延时预测模型,确定所述第一LUN的延时预测值,其中,所述延时预测模型包含所述存储系统中的LUN的性能参数与所述存储系统中的LUN的延时的映射关系,所述存储系统中的LUN的延时为所述存储系统中的LUN处理读写命令时的延时;确定所述第一LUN的延时预测值与所述第一LUN的延时实际值的偏差;根据所述第一LUN的延时预测值与所述第一LUN的延时实际值的偏差,确定所述第一LUN的性能是否正常。

本申请中,通过确定LUN的延时预测值与LUN的延时实际值之间的偏差,能够根据偏差的大小确定LUN的性能是否正常,与现有方案中仅依靠人工判断LUN的性能参数来确定LUN性能是否正常的方式相比,能够LUN性能分析的准确性和可靠性。

结合第一方面,在第一方面的某些实现方式中,在根据所述第一LUN的性能参数以及延时预测模型确定所述第一LUN的延时预测值之前,所述方法还包括:在所述第一LUN的性能参数的取值在第一预设范围之内的情况下,选择专用延时预测模型作为所述延时预测模型,其中,所述专用延时预测模型是根据所述第一LUN的历史性能参数和所述第一LUN的历史延时实际值训练得到的;在所述第一LUN的性能参数的取值在第一预设范围之外的情况下,选择通用延时预测模型作为所述延时预测模型,其中,所述通用延时预测模型是根据所述存储系统中的多个LUN的历史性能参数和所述存储系统中的多个LUN的历史延时实际值训练得到的。

本申请中,可以根据LUN的性能参数的取值范围选择合适的延时预测模型,从而得到更加准确的LUN的延时预测值,进而对LUN的性能进行更好的估计。

结合第一方面,在第一方面的某些实现方式中,所述方法还包括:根据所述参考LUN的历史性能参数和所述参考LUN的历史延时实际值对所述专用延时预测模型进行修正,其中,所述参考LUN为所述存储系统中与所述第一LUN的业务相同的LUN,或者,所述参考LUN为所述存储系统中与所述第一LUN处于同一分组的LUN。

通过采用参考LUN对专用延时预测模型进行修正,以使得专用延时预测模型在延时预测时适用于更广的范围,预测的准确性和可靠性也能够有所提高。

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