[发明专利]显示器的芯片测试装置以及具有其的显示器

权利要求书

1.一种显示器的芯片测试装置，其特征在于，包括：

M条测试走线，每条测试走线穿插设置于芯片上的N条待测信号线，其中，当所述测试走线正对处于所述芯片的第一膜层的待测信号线时，所述测试走线设置于所述芯片的第二膜层，当所述测试走线正对处于第二膜层的待测信号线时，所述测试走线设置于第一膜层，每条测试走线用于接收至少一条待测信号线上的信号，其中，M、N均为大于1的整数，且M小于等于N；

N个开关单元，所述N个开关单元的第一端分别与N条待测信号线对应相连，每个开关单元的第二端连接于所述M条测试走线中任一条，每个开关单元用于控制对应的待测信号线与对应的测试走线连通；

控制单元，所述控制单元用于对所述N个开关单元进行控制，并通过控制开关单元导通以将对应的待测信号线上的信号导入到相应的测试走线。

2.根据权利要求1所述的显示器的芯片测试装置，其特征在于，所述第一膜层与所述第二膜层之间设置有绝缘层，其中，通过所述绝缘层上的过孔将处于所述第一膜层的测试走线与处于所述第二膜层的测试走线顺序连接。

3.根据权利要求1所述的显示器的芯片测试装置，其特征在于，所述控制单元通过P条选通信号线与所述N个开关单元的控制极相连，其中，每条选通信号线与Q个开关单元的控制极相连，其中，P为小于等于N的正整数，Q小于等于M。

4.根据权利要求3所述的显示器的芯片测试装置，其特征在于，所述选通信号线设置所述第一膜层，当所述测试走线正对处于所述选通信号线时，所述测试走线设置于第二膜层。

5.根据权利要求3所述的显示器的芯片测试装置，其特征在于，当Q大于1时，所述Q个开关单元的第一端分别与对应的Q条测试走线相连，所述Q个开关单元的第二端分别与所述M条测试走线中的Q条待测信号线相连，所述Q个开关单元控制对应的Q条待测信号线分别与所述Q条测试走线对应连通。

6.根据权利要求5所述的显示器的芯片测试装置，其特征在于，每条测试走线的两端分别通过所述第二膜层和氧化铟锡ITO层的过孔与两个测试端子对应相连。

7.根据权利要求6所述的显示器的芯片测试装置，其特征在于，所述测试端子与外部装置相连，所述外部装置通过所述测试端子接收所述测试走线输出的信号以对对应的待测信号线进行测试，所述外部装置还用于通过所述测试端子施加外部信号给与所述测试走线连通的待测信号线。

8.根据权利要求7所述的显示器的芯片测试装置，其特征在于，所述控制单元与所述外部装置相连，所述外部装置以编码方式下方指令给所述控制单元，以使所述控制单元根据所述指令对所述N个开关单元进行控制。

9.根据权利要求1-8中任一项所述的显示器的芯片测试装置，其特征在于，所述第一膜层为栅极层，所述第二膜层为源漏层。

10.一种显示器，其特征在于，包括根据权利要求1-9中任一项所述的显示器的芯片测试装置。