[发明专利]SD卡的性能优化方法及装置、存储介质、终端

说明书

一种SD卡的性能优化方法及装置、存储介质、终端，所述方法包括以下步骤：确定多个不同的预设间隔时长；分别采用各个预设间隔时长向SD卡发送测试数据；读取所述SD卡内对应于各个预设间隔时长的测试数据；比较按照每个预设间隔时长发送的测试数据和对应读取到的测试数据，如果一致，则确定所述预设间隔时长有效；确定至少一个预设间隔时长集群，每一预设间隔时长集群内包含多个有效且连续的预设间隔时长，并且将包含的预设间隔时长的数量最多的预设间隔时长集群作为目标集群；计算所述目标集群中各个预设间隔时长的平均值，并将所述平均值作为写入所述SD卡的间隔时长。本发明方案可以提高SD卡写入数据的稳定性和准确性。

技术领域

本发明涉及存储卡技术领域，尤其是涉及一种SD卡的性能优化方法及装置、存储介质、终端。

背景技术

在SD卡的快速发展中，由于SD卡的厂商和SD的标准更新很快，包括技术工艺等方面都可能发生变化，容易导致SD卡发生兼容性下降，甚至出现SD卡写入不稳定，或SD卡读写速度慢等问题。

图1是现有技术中一种向SD卡发送数据的场景示意图，时钟周期起始点与发送数据时间点之间的时间间隔为默认时间间隔，也即总是在时钟周期起始点起的默认间隔时长后的发送数据时间点发送数据，一旦时钟周期发生波动，或者所述默认间隔时长设置得不合适，会导致发送数据时间点不符合该SD卡的真实需求，使得SD卡写入数据的稳定性和准确性下降。

发明内容

本发明解决的技术问题是提供一种SD卡的性能优化方法及装置、存储介质、终端，可以确定向SD卡发送数据的合适的间隔时长，从而提高SD卡写入数据的稳定性和准确性。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供一种SD卡的性能优化方法，包括以下步骤：确定多个不同的预设间隔时长，所述预设间隔时长是以时钟周期起始点开始计算的；分别采用各个预设间隔时长向SD卡发送测试数据；读取所述SD卡内对应于各个预设间隔时长的测试数据；比较按照每个预设间隔时长发送的测试数据和对应读取到的测试数据，如果一致，则确定所述预设间隔时长有效；确定至少一个预设间隔时长集群，每一预设间隔时长集群内包含多个有效且连续的预设间隔时长，并且将包含的预设间隔时长的数量最多的预设间隔时长集群作为目标集群；计算所述目标集群中各个预设间隔时长的平均值，并将所述平均值作为写入所述SD卡的间隔时长。

可选的，每个预设间隔时长是根据默认间隔时长增加或减少一个或多个预设时间步长得到的。

可选的，所述的SD卡的性能优化方法还包括：将对应于所述SD卡的设备信息以及所述平均值存入第一存储器。

可选的，所述的SD卡的性能优化方法还包括：在所述SD卡上电时，在所述第一存储器中查找对应于所述SD卡的设备信息的平均值；将所述平均值作为写入所述SD卡的间隔时长。

可选的，所述设备信息包括以下一项或多项：设备号、代加工号、产品名称。

可选的，所述测试数据之前附加有预设长度的随机数据。

可选的，每个测试数据包含有多个子数据。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供一种SD卡的性能优化装置，包括：预设间隔时长确定模块，适于确定多个不同的预设间隔时长，所述预设间隔时长是以时钟周期起始点开始计算的；发送模块，适于分别采用各个预设间隔时长向SD卡发送测试数据；读取模块，适于读取所述SD卡内对应于各个预设间隔时长的测试数据；比较模块，适于比较按照每个预设间隔时长发送的测试数据和对应读取到的测试数据，如果一致，则确定所述预设间隔时长有效；目标集群确定模块，适于确定至少一个预设间隔时长集群，每一预设间隔时长集群内包含多个有效且连续的预设间隔时长，并且将包含的预设间隔时长的数量最多的预设间隔时长集群作为目标集群；平均值计算模块，适于计算所述目标集群中各个预设间隔时长的平均值，并将所述平均值作为写入所述SD卡的间隔时长。