[发明专利]一种用于直流电阻仪测试装置的保护方法在审
| 申请号: | 201710843842.7 | 申请日: | 2017-09-18 |
| 公开(公告)号: | CN107576841A | 公开(公告)日: | 2018-01-12 |
| 发明(设计)人: | 王传军;李怀珍 | 申请(专利权)人: | 上海电机系统节能工程技术研究中心有限公司;上海电器科学研究所(集团)有限公司;上海电科电机科技有限公司 |
| 主分类号: | G01R19/145 | 分类号: | G01R19/145;G01R27/02 |
| 代理公司: | 上海申汇专利代理有限公司31001 | 代理人: | 翁若莹,柏子雵 |
| 地址: | 200063 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 用于 直流 电阻 测试 装置 保护 方法 | ||
1.一种用于直流电阻仪测试装置的保护方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1、根据测试项目判断是采用静态测试还是动态测试,若采用静态测试,则进入步骤2,若采用动态测试,则进入步骤3;
步骤2、试验者观察判断待测品是否带电,在不带电的情况下,接通直流电阻仪的测量夹头,等待数据稳定后按下直流电阻仪的相应按钮将测试数据保存至直流电阻仪的相应缓存区,进入步骤4;
步骤3、启动直流电阻仪的计时功能,待被试样品无残余电压后再将直流电阻仪的夹头夹上,启动电阻动态测试功能,此时直流电阻仪的微处理器将根据预设的时间间隔将时间和电阻组成的测试数据数组保存至直流电阻仪的相应缓存区,等测量结束或者预设时间达到后取下电阻仪测量夹头,进入步骤4;
步骤4、将直流电阻仪的相应缓存区的数据调出来进行分析处理。
2.如权利要求1所述的一种用于直流电阻仪测试装置的保护方法,其特征在于,在所述步骤4中,通过上位机将所述直流电阻仪的相应缓存区的数据调出来进行分析处理。
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