[发明专利]摄像头模组光心位置测量方法及测量装置

权利要求书

1.一种摄像头模组光心位置测量装置，包括：准直机构、云台机构和选别机构；其中，

所述准直机构包括准直镜，所述准直镜用于使光源发射出的发散光变为平行光；

所述云台机构包括云台，所述云台用于放置摄像头模组，在所述云台放置摄像头模组的位置设置有平衡装置，所述平衡装置用于使所述摄像头模组的镜头的上表面与所述准直镜的下表面保持平行，以使所述平行光垂直于镜头表面入射；

所述选别机构包括拾取机构和与所述拾取机构相连的移动机构；其中，

所述拾取机构用于拾取摄像头模组，通过所述移动机构的移动将所述拾取机构所拾取的摄像头模组放置在所述平衡装置的上方，并使所述摄像头模组的镜头与所述准直镜正对；其中，

在所述准直镜的下表面压紧所述摄像头模组的镜头的上表面之后，所述平行光垂直于所述镜头表面入射，并在所述摄像头模组的成像传感器上成像点，所述像点为摄像头模组的光心，通过获取所述摄像头模组的光心坐标和所述成像传感器的物理中心坐标获取所述摄像头模组的光心偏差值。

2.如权利要求1所述的摄像头模组光心位置测量装置，其中，

所述准直镜包括准直镜头、套设在所述准直镜头外的第一镜筒和第二镜筒，所述第一镜筒部分套设于所述第二镜筒内；其中，

在所述第一镜筒的外壁上设置有永磁铁，在所述第二镜筒的内壁上设置有线圈，在所述第二镜筒的底部设置有压圈，所述线圈与所述永磁铁产生电磁感应，以使所述第二镜筒相对于所述第一镜筒移动，通过所述压圈压紧所述摄像头模组的镜头的上表面。

3.如权利要求2所述的摄像头模组光心位置测量装置，其中，

所述压圈包括可拆卸连接的第一压圈和第二压圈，所述第一压圈和第二压圈用于对不同类型的摄像头模组的光心位置进行测量。

4.如权利要求1所述的摄像头模组光心位置测量装置，其中，

所述云台机构包括顶针工装和驱动所述顶针工装的气动工装，通过所述气动工装驱动所述顶针工装给所述摄像头模组的成像传感器供电。

5.如权利要求1所述的摄像头模组光心位置测量装置，其中，

所述平衡装置包括垫片和弹簧，所述弹簧至少为两对，所述弹簧的一端与所述垫片的底部相连，另一端与所述云台相连。

6.如权利要求1所述的摄像头模组光心位置测量装置，其中，

所述拾取机构包括支架、以及设置在所述支架上的第一吸嘴和第二吸嘴，通过所述第一吸嘴和第二吸嘴吸取所述摄像头模组；

所述移动机构包括水平移动机构和竖直移动机构；其中，

所述水平移动机构包括第一气缸和与所述第一气缸相连的第一活塞，通过所述第一气缸和第一活塞的配合使所述第一吸嘴和第二吸嘴所吸取的摄像头模组进行水平方向的移动；

所述竖直移动机构包括第二气缸和与所述第二气缸相连的第二活塞，通过所述第二气缸和第二活塞的配合使所述第一吸嘴和第二吸嘴所吸取的摄像头模组进行竖直方向的移动。

7.一种摄像头模组光心位置测量方法，利用如上述权利要求1～6中任意一项所述的摄像头模组光心位置测量装置进行测量，所述方法包括：

利用准直镜将光源发出的发散光变为平行光；

利用平衡装置将所述平行光垂直于摄像头模组的镜头表面入射，获取所述平行光在所述摄像头模组的成像传感器上的光心坐标；

根据所述成像传感器的物理中心坐标，以及所获取的光心坐标获取所述摄像头模组的光心偏差值。

8.如权利要求7所述的摄像头模组光心位置测量方法，其中，在根据所述成像传感器的物理中心坐标，以及所获取的光心坐标获取摄像头模组的光心偏差值的过程中，

以成像传感器的物理中心为原点建立坐标系，所述光心偏差值为建立的坐标系的横轴方向和纵轴方向的像素数目。

9.如权利要求7所述的摄像头模组光心位置测量方法，其中，

所述发散光包括在轴光线和离轴光线，所述平行光为在轴光线，通过准直镜将所述光源发出的发散光中的离轴光线变为在轴光线。

10.如权利要求9所述的摄像头模组光心位置测量方法，其中，

通过排布光源与所述准直镜的阵列增加所述平行光的直径，使所述平行光的直径大于镜头的直径，以使所述镜头表面均接收到所述平行光的入射。